簡介 ：

用于材料研究的蔡司LSM

900共聚焦顯微鏡

高級(jí)成像與表面形貌分析用多功能共聚焦顯微鏡

蔡司LSM 900激光掃描共聚焦顯微鏡（CLSM）是一臺(tái)用于材料分析的儀器，可在實(shí)驗(yàn)室或多用戶設(shè)施中表征三維微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。LSM 900可對(duì)納米材料、金屬、聚合物和半導(dǎo)體進(jìn)行**的三維成像和分析。將蔡司Axio Imager.Z2m正置式全自動(dòng)光學(xué)顯微鏡或蔡司Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭，同時(shí)具有所有的光學(xué)顯微鏡觀察模式，以及高精度的共聚焦表面三維成像模式，您可輕松將所有功能集于一身。這些功能的使用無需切換顯微鏡，您將可以進(jìn)行原位觀察，節(jié)省大量的時(shí)間。自動(dòng)化也會(huì)給您的數(shù)據(jù)采集和后期處理帶來諸多便利。另外，LSM 900具有非接觸式共聚焦成像的優(yōu)勢，例如表面粗糙度的評(píng)估。

優(yōu)勢

結(jié)合光學(xué)顯微和共聚焦成像

LSM共聚焦平臺(tái)LSM 900專為2D和3D的嚴(yán)苛材料應(yīng)用而開發(fā)。

l  您可以用非接觸式共聚焦成像來表征樣品的形貌特征和評(píng)估表面粗糙度

l  以無損方式確定涂層和薄膜的厚度

l  您可以運(yùn)用各種成像方式，包括在光學(xué)觀察方式或共聚焦模式下的偏光與熒光顯微成像

l  在反射光下表征金相樣品，在透射光下表征巖石或聚合物薄片樣品。

高效樣品研究

無需切換顯微鏡，即可使用多種方式對(duì)新材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像與分析，減少儀器設(shè)置時(shí)間，提高獲得結(jié)果的效率。

l  在樣品的多個(gè)位置使用自動(dòng)化數(shù)據(jù)采集優(yōu)化您的流程。

l  可以在概況圖像上靈活定義您感興趣的區(qū)域，只采集您需要的區(qū)域。

l  高達(dá)6,144 × 6,144像素的掃描范圍使您可以靈活定義掃描區(qū)域的大小甚至方向

l  掌控?cái)?shù)據(jù)及其后期處理

擴(kuò)展成像范圍

共聚焦裝置助您拓展寬場分析能力：

l  將Axio Imager.Z2m正置式全自動(dòng)顯微鏡或Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭進(jìn)行升級(jí)，您可充分利用其硬件，如物鏡、載物臺(tái)、光源等，及其軟件和接口的功能多樣性。

l  可選配的蔡司ZEN Intellesis軟件提供基于機(jī)器學(xué)習(xí)的圖像分割解決方案，可用于鑒別不同的相組織。

l  在進(jìn)行多尺度實(shí)驗(yàn)時(shí)，添加ZEN Connect來疊加和處理任意來源的圖像

l  使用ZEN Data Storage執(zhí)行智能數(shù)據(jù)管理

l  使用Shuttle＆Find關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)模塊擴(kuò)展您的共聚焦顯微鏡功能實(shí)現(xiàn)從光學(xué)顯微鏡切換至電子顯微鏡，反之亦然。將成像和分析方法高效結(jié)合。在材料分析應(yīng)用中獲取樣品信息。過程可重復(fù)。

OAD：ZEN成像軟件的接口

蔡司LSM 900包含版本的ZEN成像軟件，其中包括用于數(shù)據(jù)交換的開放式應(yīng)用程序開發(fā)（OAD）接口。

l  自定義和自動(dòng)化您的工作流程。當(dāng)基礎(chǔ)版ZEN軟件無法滿足您的需求時(shí)， 您可以使用已建立的第三方分析和研究軟件（如MATLAB）交換數(shù)據(jù)。

l  您可自行創(chuàng)建宏解決方案。輕松獲得ZEN的一系列重要功能，以及諸如.Net Framework等元件庫的能力。

用ConfoMap進(jìn)行3D表面分析

ConfoMap是實(shí)現(xiàn)3D表面形貌顯示和分析的理想選擇。

l  根據(jù)的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行表面性能的質(zhì)量與功能評(píng)估，如 ISO 25178。

l  您可以在軟件中對(duì)圖像進(jìn)行綜合幾何形狀、功能性和粗糙度研究，以及創(chuàng)建詳細(xì)的表面分析報(bào)告。

l  新增可選模塊用于高級(jí)表面紋理分析、輪廓分析、晶粒與顆粒分析、3D 傅立葉分析及表面進(jìn)化分析和統(tǒng)計(jì)。