Zetasizer系列在被guang泛應(yīng)用于納米顆粒、膠體及蛋白質(zhì)尺寸、zeta電位測量及分子表征。Zetasizer 系列儀器使用動態(tài)光散射技術(shù)測量自納米級以下至幾微米的顆粒與分子粒度,使用電泳光散射技術(shù)測量電動電勢及電泳遷移率,并使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量分子量。 Zetasizer 系統(tǒng)提供了一系列型號,包括全新的 Zetasizer Pro 和 Ultra。 這兩種系統(tǒng)擁有的易用性和靈活性,以及強(qiáng)大的用戶指導(dǎo)和新穎的測量技術(shù)(例如 MADLS® 和顆粒濃度)。
Zetasizer nano系列在被guang泛應(yīng)用于納米顆粒、膠體及蛋白質(zhì)尺寸、zeta電位測量及分子表征。
Zetasizer APS精度zui高的自動化蛋白質(zhì)粒度測量
Zetasizer µV可添加至任何SEC(尺寸排阻色譜)系統(tǒng)的模塊化粒度及分子量檢測器。
Zetasizer WT zata 電位的在線測量 - 控制您的混凝程序!
Zetasizer AT使用動態(tài)光散射在線測量粒度
性能特點(diǎn):
Zetasizer 系列分為高性能級與標(biāo)準(zhǔn)級兩類系統(tǒng),包含粒度分析儀、zeta 電位分析儀、分子量分析儀、蛋白質(zhì)遷移率及微觀流變學(xué)測量組合。 對應(yīng)于您應(yīng)用及預(yù)算要求,從粒度小于一納米的顆粒/分子到幾微米的顆粒。此類系統(tǒng)采用動態(tài)光散射法測量粒度及微流變;采用電泳光散射法測量ZETA電位及電泳遷移率;采用靜態(tài)光散射法測量分子量。 此外,該系統(tǒng)還可在流量配置中使用,與GPC/SEC系統(tǒng)連接,作為色譜粒度檢測器使用。
Zetasizer APS將20µL的樣品從各個孔轉(zhuǎn)移至精密的石英流動池中進(jìn)行測量。 樣品池環(huán)境得到了優(yōu)化,使溫度控制與光學(xué)清晰度更為精確,從而保證了zui準(zhǔn)確的測量結(jié)果。 這意味著,可使用任何行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)型一次性或可重復(fù)使用型孔板,而不用擔(dān)心影響測量結(jié)果的孔板透明性或擦痕。
Zetasizer µV是一種高靈敏度雙功能光散射檢測器。 它可作為PALS檢測器與任何GPC/SEC系統(tǒng)配合使用(包括Viscotek),得出jue對粒度信息(通過DLS)和jue對分子量信息(通過SLS)。 另外,在試管模式中,它適合檢測聚集物和通過DLS監(jiān)測聚集物的形成。 Zetasizer µV可通過一個8µl 的石英流通樣品池和標(biāo)準(zhǔn)色譜管連接至任何GPC/SEC系統(tǒng)和濃度檢測器。 這樣,就可以測量jue對粒度、jue對分子量、聚集與結(jié)合情況(與另一個濃度檢測器配合使用時)。在試管模式中,只需從設(shè)備上卸xia流動池并插入盛有樣品的標(biāo)準(zhǔn)試管即可批量測量顆粒和分子尺寸(通過DLS)。
Zetasizer WT 將 Malvern Panalytical 行業(yè)的電泳光散射技術(shù)與二十年內(nèi)累積的在線測量專業(yè)知識相結(jié)合,推出一款zhuan用在線 zeta 電位分析儀,zhuan供水處理廠使用。工作不再憑猜測 - 精確而可靠的 [mV] 結(jié)果,提供jing準(zhǔn)的投藥控制范圍。在水源水質(zhì)變化引起過濾問題前即對變化作出響應(yīng)!盡量減少化學(xué)品用量,形成穩(wěn)定絮凝。 不再需要過量投藥!
Zetasizer Ultra 綜合了功能zui強(qiáng)大的 DLS 與 ELS 系統(tǒng),它采用了非侵入背散射 (NIBS®) 和的多角動態(tài)光散射 (MADLS) 技術(shù)來測量顆粒與分子粒度。 NIBS 的多用性和靈敏度可測量guang泛的濃度范圍,而 MADLS 則能讓您在這些關(guān)鍵測量當(dāng)中更精細(xì)地了解樣品粒度分布。MADLS 的擴(kuò)展能夠直接分析顆粒濃度。 顆粒濃度的測量無需校準(zhǔn),適合于guang泛的材料,無需或只需極少稀釋,并且使用快捷,這一切都使其成為一種理想的篩選技術(shù)。 這是 Zetasizer Ultra 的一項(xiàng)功能,甚至可以運(yùn)用于以前非常難測量的病毒和 VLP 等樣品。Zetasizer Ultra 還利用 M3-PALS 技術(shù)提供了靈敏度zui高的電動電勢和電泳遷移率測量。 我們具有性價比的一次性折疊毛細(xì)管樣品池允許使用我們的擴(kuò)散障礙法在極低樣品量的情況下進(jìn)行測量,并且不會產(chǎn)生直接樣品電極接觸。 此類測量提供的信息可以地指出樣品穩(wěn)定性以及/或者聚集傾向。增加的恒流模式可在高導(dǎo)電性介質(zhì)中測量電泳遷移率和電動電勢,從而減少由于較高離子濃度下的電極極化而出現(xiàn)的錯誤。