






一、概述
本系列產(chǎn)品根據(jù)試品使用的特殊性,分為兩箱式動態(tài)沖擊和一箱式靜態(tài)沖擊。既可作冷熱沖擊試驗,也可作單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛用于航空、航天、電子、IT行業(yè)等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等,同時可通過此試驗,進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
二、依據(jù)標準
《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法》GB2423.22-93
《溫度沖擊試驗》GJB 150.5-86
《溫度沖擊方法》GJB 360.7-87
《高溫試驗箱技術(shù)條件》GB 11158-2008
《低溫試驗箱技術(shù)條件》GB 10589-2006
《高低溫試驗箱技術(shù)條件》GB 10592-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫》GBT 2423.1-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》GBT 2423.2-2008