手持式光譜分析儀可鑒別金屬材料的牌號，廣泛應(yīng)用于石油，化工，電廠，天然氣，煤氣等行業(yè)的壓力容器，管道閥門安裝以及現(xiàn)場確認(rèn)材料，也應(yīng)用于廢料回收，混料檢驗(yàn)篩選，以及原材料牌號確認(rèn)，尤其適合于不銹鋼材料的牌號確認(rèn)以及定量測量元素。
手持式分析儀 探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發(fā)源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時(shí)間：10-200秒（可手持式或座立式測試） 檢測對象：固體、液體、粉末 檢測范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時(shí)分析元素：多至26個(gè)元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非人員無法使用 Data使用性：可在PDA內(nèi)進(jìn)行編輯，可導(dǎo)入PC機(jī)進(jìn)行 保存打印，配備海量存儲(chǔ)卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時(shí)

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

手持式光譜儀用于的定量定性分析：
手持式光譜儀是一種功能強(qiáng)大,并且可擴(kuò)展的手持式光譜儀,廣泛用于金屬材料的成分分析,牌號鑒別和分選.它包括激發(fā)和配有可充電電池的光譜儀主機(jī)兩部分.它工作時(shí),既不需要?dú)鍤?也不需要放射源。 1、原理：手持式光譜儀屬于熒光光譜,實(shí)驗(yàn)室用的直讀屬于火花直讀光譜,是激發(fā)源不同 2、精度：手持式光譜儀主要用于定性分析,實(shí)驗(yàn)室用的火花直讀光譜主要用于定量分析 3、分析范圍：手持式光譜儀可分析金屬及礦石,并且可分析一些火花直讀無法激發(fā)的基體,例如鋯基體；實(shí)驗(yàn)室直讀光譜儀雖然分析的基體比手持式的少,但是相同基體里分析的元素種類比手持式的要多。

手持合金光譜儀可分析黑色金屬、有色金屬、合金的化學(xué)成分，能幫助客戶在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場應(yīng)用領(lǐng)域中，進(jìn)行合號鑒別、金屬成分分析，獲得準(zhǔn)確、可靠的分析檢測結(jié)果。 現(xiàn)場無損檢測。擁有廣泛、可自定義牌號庫，保證合金鑒別。
手持式光譜儀使用注意事項(xiàng) 　　
1.使用手持式光譜儀應(yīng)注意防護(hù)，手持測試時(shí)，測試窗口切勿對人，勿空打。 　　
2.分析儀應(yīng)拿妥，帶好腕帶，切勿摔落及撞擊。 　　
3.不能用指甲掐電源鍵等塑料按鍵，要用指腹操作，以免損壞塑膠鍵。 　　
4.手持式光譜儀操作環(huán)境溫度為-5℃~25℃，端使用溫度為-10℃~49℃，不能將手持式光譜儀放在汽車后備箱等高溫地方，若手持式光譜儀過熱，應(yīng)停止工作、關(guān)機(jī)使其冷卻10分鐘左右，再重新開機(jī)、校正使用。 　　5.不能檢測磁性材料，否則造成手持式光譜儀損壞，不使用時(shí)應(yīng)確實(shí)關(guān)機(jī)并放入手持式光譜儀箱中存放。