日本nfcorp阻抗分析儀 ZA57630
從電子元件和半導(dǎo)體設(shè)備到材料表征,我們滿足各種阻抗測量需求
ZA57630是一款阻抗分析儀,基本精度為±0.08%,最大頻率為36 MHz。
它配備了多種功能,并支持廣泛的阻抗測量。
基本精度:±0.08%
頻率范圍:10 μHz ~ 36MHz
阻抗范圍:10μΩ ~ 100GΩ (外部擴(kuò)展測量模式)
測量的交流信號(hào)電平:0.01 毫伏方秒 ~ 3 毫磁振,0.1 微臂 ~ 60 毫安
直流偏置: -5 V ~ +5 V / -40 V ~ +40 V (>1 kHz), -100 mA ~ +100 mA
測量時(shí)間:0.5 ms/點(diǎn)
測量參數(shù): Z, R, X, Y, G, B, LS, LP, CS, CP, RS, RP, ΘZ, ΘY, D, DΕ, DΜ, Q, V, I, εs, εs′, εs“, μs, μs′, μs′, μs”, 頻率
高速測量 業(yè)界最快的 0.5 ms/點(diǎn)
實(shí)現(xiàn)了業(yè)界最快的0.5 ms/點(diǎn)。
縮短生產(chǎn)線的節(jié)拍時(shí)間,提高測量工作的效率。
此外,通過增加要設(shè)置的測量時(shí)間,可以平均測量結(jié)果并降低噪聲的影響。 您可以根據(jù)需要選擇最佳測量時(shí)間。
4 種測量模式 廣泛的 DUT
標(biāo)準(zhǔn)測量模式 (IMPD-3T)
高頻測量模式 (IMPD-2T)
外部擴(kuò)展測量模式 (IMPD-EXT)
增益相位測量模式 (G-PH)
標(biāo)準(zhǔn)測量模式 (IMPD-3T)
一種可在寬頻率范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度測量的模式。
測試引線和測試夾具可用于容納各種形狀的試樣形狀。
4 端子和 3 端子連接也很容易實(shí)現(xiàn)。
推薦頻段:10μHz~10MHz
推薦阻抗值:1Ω~10MΩ
高頻測量模式 (IMPD-2T)
可在 10 MHz 或更高的高頻下實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測量的模式。
推薦阻抗值:200mΩ~10kΩ
使用 N 型連接器的 2 端子連接
端口擴(kuò)展功能即使在待測樣品的接線較長的情況下也能實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測量。 可有效集成到恒溫箱和檢測設(shè)備中。
外部擴(kuò)展測量模式 (IMPD-EXT)
通過使用施加高電壓/大電流信號(hào)的功率放大器和用于測量小信號(hào)的前置放大器,可以執(zhí)行僅靠該儀器無法處理的各種阻抗測量。
可測量阻抗范圍 10μΩ ~ 100GΩ
用于測量超過千兆Ω的絕緣材料以及毫米Ω和微Ω量級(jí)的電線和銅箔等材料。
從我們廣泛的放大器陣容中,我們可以提出與測量樣品相匹配的組合。
注意:可測量范圍受外部連接設(shè)備(如放大器)規(guī)格的限制。
增益相位測量模式 (G-PH)
一種可以測量傳輸特性的模式,例如濾波器和放大器。 將掃描信號(hào)施加到被測電路上,并以高精度測量其頻率響應(yīng)(增益、相位)。
頻段:10μHz~36MHz
測量精度:0.01 dB 增益,0.06° 相位
動(dòng)態(tài)范圍 110dB(典型值)