X-4B顯微熔點(diǎn)儀
用途
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于液晶、藥物、化工、紡織、塑料粒子、染料、香料等晶體有機(jī)化合物的測(cè)定及顯微觀察。在醫(yī)學(xué)、化工、合成纖維、生物學(xué)、礦物學(xué)、學(xué)等領(lǐng)域均有廣泛的應(yīng)用。
特點(diǎn)
◆多用性 既可作為微量樣品(毛細(xì)管法)的熔點(diǎn)測(cè)定,切片樣品的熔點(diǎn)測(cè)定,又可進(jìn)行生物工程的熱力學(xué)研究(載玻片—蓋玻片,熱臺(tái)法);
◆倍數(shù)可調(diào) 40X-100X可調(diào)
◆保溫罩設(shè)計(jì) 減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響
| X-4B |
光學(xué)放大倍數(shù) | 40X-100X可調(diào) |
顯微鏡頭部 | 雙目頭部 |
溫度顯示 | 最小示值0.1℃ |
熔點(diǎn)測(cè)量范圍 | 室溫至320℃ |
測(cè)量重復(fù)性 | ±1℃(小于200℃時(shí));±2℃(200℃—320℃時(shí)) |
技術(shù)參數(shù)