介紹
蔡司LSM 800激光共聚焦掃描顯微鏡（CLSM）是*臺(tái)幫您進(jìn)行材料分析的儀器。在您的實(shí)驗(yàn)室或多用戶設(shè)備中表征3D表面形貌。LSM 800能夠?qū){米材料、金屬、聚合物及半導(dǎo)體進(jìn)行準(zhǔn)確的三維成像和分析。蔡司Axio Imager.Z2m與共聚焦掃描組件的融合可以擴(kuò)展您的正置光顯微鏡功能。將用于材料研究的各種基本的觀察方式與高精度表面形貌分析結(jié)合，無(wú)需調(diào)整顯微鏡，節(jié)省設(shè)置儀器的時(shí)間。為您提供的工作流程指導(dǎo)可使成像更簡(jiǎn)便。這得益于開(kāi)放式的軟件，使用戶能夠用自己的宏觀解決方案進(jìn)行樣品分析。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
光顯微成像與共聚焦成像的出色結(jié)合
共聚焦平臺(tái)LSM 800 是應(yīng)2D和3D材料應(yīng)用需求而研發(fā)。并應(yīng)用了正置顯微鏡的*系列觀察方式。
用熒光觀察方式或在共聚焦模式下表征3D結(jié)構(gòu)。
偏光方式觀察各向異性材料。
用圓微分干涉（C-DIC）方式識(shí)別興趣區(qū)域，并在共聚焦模式下做進(jìn)*步地形研究。
工作流程指導(dǎo)使成像變得更簡(jiǎn)單
無(wú)需調(diào)整顯微鏡，僅通過(guò)分析與成像即可減少儀器設(shè)置時(shí)間，并能快速產(chǎn)生結(jié)果。
僅在樣本上定義2D掃描區(qū)域，然后即可采集到感興趣區(qū)域（ROI）圖像。
在感興趣區(qū)域大小和方位上具有*大的靈活性。
會(huì)有*個(gè)簡(jiǎn)單的用戶界面幫您進(jìn)行工作流程指導(dǎo)。
擴(kuò)展您的成像范圍
共聚焦幫您拓展寬視場(chǎng)分析能力
升級(jí)您的Axio Imager.Z2m 至LSM 800，并充分利用其功能多樣的硬件，如物鏡、載物臺(tái)和照明。
采用開(kāi)放式應(yīng)用程序開(kāi)發(fā)（OAD）定義您的應(yīng)用程序。通過(guò)外部程序如MATLAB進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。
用Shuttle & Find關(guān)聯(lián)顯微鏡擴(kuò)展您的共聚焦顯微鏡功能。從光學(xué)顯微鏡到電子顯微鏡，為您提供了完整的工作流程——反之亦然。將成像與分析方法進(jìn)行有效結(jié)合，還原了材料分析應(yīng)用中的所有信息。
共聚焦原理
對(duì)整個(gè)樣本進(jìn)行3D成像
LSM800激光共聚焦顯微鏡用共聚焦光束路徑中的激光捕獲樣本中定義的光切面，并將它們組合在三維圖像中。它的光圈（通常稱針孔）是按這種方式設(shè)置的：焦距以外的信息會(huì)被阻擋在外，只有焦距以內(nèi)的信息能夠被探測(cè)到。
按照x,y軸方向掃描生成圖像。焦距內(nèi)的信息是明亮的，焦距以外的信息是黑暗的。
通過(guò)改變樣本與物鏡之間距離（樣本是光學(xué)切割的截面），生成圖像棧。
通過(guò)分析圖像棧中單個(gè)像素的分布強(qiáng)度，可計(jì)算出相應(yīng)的高度。整個(gè)視野中的高度信息結(jié)合起來(lái)可以形成*個(gè)高度圖。
采用C Epiplan-APOCHROMAT物鏡
得益于在可見(jiàn)光譜范圍內(nèi)，增強(qiáng)成像對(duì)比度和進(jìn)行高速傳輸成像。
在傳統(tǒng)寬視場(chǎng)顯微技術(shù)中，用微分干涉（DIC）和熒光獲取更佳的觀察結(jié)果。
C Epiplan-APOCHROMAT物鏡專門為共聚焦顯微技術(shù)而設(shè)計(jì)，能夠?qū)崿F(xiàn)全視野中405納米的像差。這樣可以更少的減少干擾噪聲和工件產(chǎn)生精準(zhǔn)的地形數(shù)據(jù)，從而顯示更多樣本表面細(xì)節(jié)。
開(kāi)放式應(yīng)用程序開(kāi)發(fā)(OAD):您的ZEN成像軟件界面
蔡司LSM 800配備新版ZEN成像軟件，包含*個(gè)開(kāi)放式應(yīng)用程序開(kāi)發(fā)（OAD）界面，用于數(shù)據(jù)交換。
自定義并自動(dòng)化您的工作流程。當(dāng)您需要除基本的ZEN軟件以外的功能時(shí)，您可以與*三方分析和研究軟件交換數(shù)據(jù)，如MATLAB。
創(chuàng)建屬于自己的宏觀解決方法。享受輕松設(shè)置ZEN重要功能和獲取元件庫(kù)的能力，如網(wǎng)絡(luò)框架。
ConfoMap是實(shí)現(xiàn)3D表面形貌探測(cè)可視化的理想選擇。
根據(jù)近期的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行表面性能的質(zhì)量與功能評(píng)估，如ISO25178。
共聚焦圖包括綜合幾何，功能性和粗糙度研究——以及創(chuàng)建詳細(xì)的表面分析報(bào)告。
新增加可選模塊用于*的表面紋理分析，輪廓分析，顆粒與粒子分析，3D傅立葉分析，表面進(jìn)化分析和統(tǒng)計(jì)。
