蔡司SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡GeminiSEM 300掃描電鏡具有出色的分辨率、更高的襯度和更大且無畸變的成像視野，可方便地選取適合樣品的真空度等環(huán)境參數(shù)，使FESEM初學(xué)者也能快速掌握
更靈活的成像方式
1.無論是用戶還是初學(xué)者，蔡司SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡GeminiSEM 300將讓您體驗到在更高的分辨率和更佳的襯度下進(jìn)行極大視野范圍成像的樂趣，
2.并且在高真空或是可變壓力模式下都可以實現(xiàn)。
3.得益于高效的信號采集系統(tǒng)和優(yōu)異的分辨率性能，可實現(xiàn)快速、高質(zhì)量、無畸變的大范圍成像；
4.創(chuàng)新設(shè)計的高分辨率電子槍模式，為對磁性樣品、不導(dǎo)電樣品以及電子束敏感樣品的低電壓成像量身訂制解決方案；
5.蔡司獨樹一幟的鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測器，在低電壓下也可輕松地獲得高質(zhì)量的樣品材料襯度圖像；
6.NanoVP技術(shù)讓您可以使用鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測器對要求苛刻的不導(dǎo)電樣品進(jìn)行高靈敏度、高分辨成像。
