商品描述
小型臺式X射線衍射儀：用于粉末材料鑒別，物相分析，材料物相的定性定量分析，晶體結構分析。
Olympus新一代BTX™ III移動X射線衍射(XRD) 分析儀在現(xiàn)場和實驗室更快地提供定量礦物學結果。強大、直觀的軟件與兩個系統(tǒng)上的新型X射線探測器相結合，可以提高速度并提供結果使您快速、自信地做出決策。
一個數(shù)據(jù)儀表板：在一個視圖中查看所有結果、校準和分析信息，以加快工作流程。
無線功能：使用具有無線功能的任何設備（如筆記本電腦、平板電腦或電話）獲取實時結果并操作儀器。
輕松導出數(shù)據(jù)：輕松導出定量礦物學/相ID結果以便進行顯示或進一步的數(shù)據(jù)分析，使用網絡文件夾訪問原始數(shù)據(jù)文件以便分析衍射圖（適用于喜歡使用第三方軟件進行人工分析的用戶）。
Olympus的BTX III的分析性能仍不遜色，可用于臺式實驗室的分析。
樣品制備簡便
奧林巴斯的簡化了樣品制備和XRD衍射數(shù)據(jù)收集過程。傳統(tǒng)XRD設備需要樣品量多，通過壓片確保樣品晶粒的隨機取向效應，而BTX III 采用振動樣品模式，使得所有的晶粒對流從而減弱晶體取向影響。同時，所需要的樣品量約15毫克，易于獲得。得益于的振動倉、透射幾何結構和簡便的樣品轉載，無需專業(yè)的技術培訓也能勝任操作。
XPowder軟件
隨BTX II一起運送給用戶的有一個用于處理X射線衍射數(shù)據(jù)結果所必需的軟件（XPowder）。 這個軟件中包含AMCSD礦物數(shù)據(jù)庫。
針對定量分析，XPowder為用戶提供了各種參考密度比率（RIR）定量分析方式以及對各種衍射圖案進行分析的工具。
此外，BTX II還可以多種文件格式提供XRD圖案數(shù)據(jù)，從而可使用戶方便地獲得第三方項目中的XRD圖案的判讀信息。
X射線衍射數(shù)據(jù)
包含搜索/匹配及XRD定量分析軟件
X射線熒光數(shù)據(jù)
XRF的定性掃查
連通性
BTX II可以獨立于嵌
BTX的技術規(guī)格
| XRD分辨率 | 0.25o 2? FWHM |
|---|---|
| XRD范圍 | 5 - 55o 2? |
| 探測器類型 | 1024 x 256像素；2維Peltier致冷CCD |
| XRF能量分辨率 | 200 eV，5.9 keV |
| XRF能量范圍 | 3～25 keV |
| 樣本顆粒大小 | <150 μm碾碎礦石（100目篩，150 μm) |
| 樣品量 | 約15 mg |
| X射線管靶材 | 鈷或銅（鈷為標準配置) |
| X射線管電壓 | 30 kV |
| X射線管功率 | 10 W |
| 數(shù)據(jù)存儲 | 40 Gb，堅固耐用的內部硬盤驅動器 |
| 無線連接 | 802.11 b/g，從網絡瀏覽器進行遙控 |
| 工作溫度 | 10oC～35oC |
| 重量 | 12.5 kg |
| 尺寸 | 30 x 17 x 47厘米（11.75 x 6.9 x 19.5英寸） |
| 電源要求 | 簡單AC電源（無冷卻系統(tǒng)） |
BTX可以獨立于嵌入儀器本身的軟件而操作。用戶可以通過無線連接（802.11b/g），訪問操作系統(tǒng)。這種的操作方式在控制儀器和隨后的數(shù)據(jù)處理方面具有極大的靈活性。
