Coat Analyzer離線涂層測厚儀
Coat Analyzer 離線涂層測厚儀由德國AIM Systems有限公司研發(fā)生產(chǎn)，采用光熱紅外法技術(shù)原理，可用于實(shí)驗(yàn)室或者工業(yè)產(chǎn)品涂層厚度的離線測量，其組成包括測厚儀，支架，電腦以及測量軟件。
光熱紅外探測法基本原理：
待測樣品在調(diào)制光源的激勵(lì)下吸收了光輻射的能量，產(chǎn)生紅外熱輻射即熱波，由于待測樣品內(nèi)部的多層結(jié)構(gòu)或者自身缺陷而存在分界面特性的差異，導(dǎo)致紅外熱波在通過分界面時(shí)波形發(fā)生變化，不同層狀結(jié)構(gòu)厚度以及樣品缺陷形貌對熱波波形變化有不同的影響，通過探測反射熱波形的隨時(shí)間變化及相對激發(fā)光信號(hào)的延遲可以分析得到待測樣品層狀結(jié)構(gòu)以及缺陷形貌尺寸的信息。
技術(shù)參數(shù)：
- 測量范圍：3-300微米
- 工作距離：100 ± 30 毫米
- 距離容差：± 50毫米
- 允許探測角度：± 60°
- 測量時(shí)間： 1-2秒/點(diǎn)
技術(shù)優(yōu)勢：
- 無損無接觸測量
- 適用范圍廣：
適用于不同材料上的不同涂層的干膜和濕膜厚度測量，
可測量的基材材質(zhì)不限（金屬、塑料、橡膠、復(fù)合材料等)，
可測量的涂料種類不限（油漆、粉末涂料、粘膠劑、潤滑涂層等）
可測量的涂裝工藝不限
- 可在曲面、粗糙表面和各種厚度的基底上測量
- 高精度，通常在±0.5µm或更小
- LED光源，使用安全，和激光危害
- 滿足工業(yè)防爆安全區(qū)要求
- 可自動(dòng)生成檢測報(bào)告和數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)
- 可在線實(shí)時(shí)測量, 適配于涂裝機(jī)器人
- 設(shè)備維護(hù)成本低
典型應(yīng)用領(lǐng)域
光熱紅外涂層測厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域極其廣泛，不受限于涂層的基材材質(zhì)，也不受限于涂裝材料以及涂裝工藝，典型應(yīng)用領(lǐng)域如下：
|| 油漆涂裝領(lǐng)域（例如汽車車身漆層、機(jī)車車身漆層以及零部件漆層的厚度測量）
|| 塑料涂裝領(lǐng)域（例如塑料外殼、電路板、汽車內(nèi)飾/外飾上的涂層厚度測量）
|| 卷材涂裝領(lǐng)域（例如鋼卷和鋁卷表面鍍膜厚度的測量）
|| 粉末涂裝領(lǐng)域（例如在粉末涂裝加熱烘烤前對膜厚進(jìn)行測量）
|| 其他涂裝領(lǐng)域（例如橡膠或者復(fù)合材料上的涂層厚度測量）
|| 用于實(shí)驗(yàn)室檢測
