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超聲探傷

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng)深圳市百思杰檢測(cè)技術(shù)有限公司
品牌
型號(hào)
所在地深圳市
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/9/18 15:53:30
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)272

產(chǎn)品標(biāo)簽:

超聲探傷測(cè)試超聲探傷測(cè)試機(jī)構(gòu)超聲探傷測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)專(zhuān)業(yè)第三方檢測(cè)無(wú)損檢測(cè)

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

深圳市百思杰檢測(cè)技術(shù)有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)BTT）是一家專(zhuān)業(yè)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，成立于2007年，位于深圳市寶安區(qū)中心城區(qū)。公司自成立以來(lái)，致力于工業(yè)品、消費(fèi)品、汽車(chē)零部件等領(lǐng)域的產(chǎn)品可靠性研究與檢測(cè)技術(shù)服務(wù)，現(xiàn)與發(fā)展為一家跨領(lǐng)域、多區(qū)域的綜合性第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)。

BTT經(jīng)過(guò)十多年的市場(chǎng)洗禮，努力發(fā)展，現(xiàn)有檢測(cè)技術(shù)能力已涵蓋汽車(chē)電子、電子電器、ISTA包裝運(yùn)輸、電子連接器、無(wú)鉛制程驗(yàn)證等領(lǐng)域，為各類(lèi)企業(yè)提供優(yōu)質(zhì)專(zhuān)業(yè)的檢測(cè)技術(shù)服務(wù)，并培養(yǎng)了一批高素質(zhì)的檢測(cè)團(tuán)隊(duì)，積累了豐富的檢測(cè)驗(yàn)證經(jīng)驗(yàn)。

具體項(xiàng)目包括：

1、氣候環(huán)境測(cè)試：高溫測(cè)試、低溫測(cè)試、溫度循環(huán)、恒定濕熱測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、快速溫變測(cè)試、低氣壓測(cè)試等

2、耐腐蝕測(cè)試：中性鹽霧、酸性鹽霧、銅離子加速、綜合鹽霧、氣體腐蝕、臭氧腐蝕、霉菌腐蝕等

3、光老化測(cè)試：UV紫外線(xiàn)試驗(yàn)、氙燈試驗(yàn)、碳弧燈試驗(yàn)等

4、機(jī)械環(huán)境測(cè)試：振動(dòng)測(cè)試、沖擊測(cè)試、碰撞測(cè)試、跌落測(cè)試、抗壓測(cè)試等

5、綜合環(huán)境測(cè)試：溫度+濕度+震動(dòng)、HALT/ HASS/HASA、溫濕度堆碼試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)等

6、包材及包裝運(yùn)輸測(cè)試：環(huán)境溫濕度測(cè)試、堆碼測(cè)試、包裝抗壓測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、沖擊測(cè)試、跌落測(cè)試、碰撞測(cè)試、水平夾持測(cè)試，低氣壓測(cè)試等

7、IP防護(hù)測(cè)試：防塵試驗(yàn)、防水試驗(yàn)等

8、物理性能測(cè)試：百格測(cè)試、耐磨測(cè)試、劃痕測(cè)試、插拔測(cè)試、彎折測(cè)試、色牢度測(cè)試、防火/燃燒測(cè)試、搖擺測(cè)試、按鍵壽命測(cè)試、MTBF(平均故障間隔時(shí)間)、硬度測(cè)試、落錘沖擊/擺錘沖擊測(cè)試、拉伸強(qiáng)度/抗壓強(qiáng)度/屈服強(qiáng)度測(cè)試、熔融指數(shù)測(cè)試等

9、電學(xué)性能測(cè)試：溫升測(cè)試、耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、介電強(qiáng)度測(cè)試、接觸電阻測(cè)試、表面電阻率測(cè)試、接地電阻測(cè)試等。

10、失效分析測(cè)試：PCB/PCBA失效、金屬材料/零部件、高分子材料失效、復(fù)合材料失效、涂鍍層失效等

11、化學(xué)分析測(cè)試：材料分析、表面分析、金相分析、膜層分析、ROHS/REACH有害物質(zhì)檢測(cè)、揮發(fā)性有機(jī)物等

12、MTBF(平均故障間隔時(shí)間)測(cè)試等

我們以誠(chéng)信為本，始終堅(jiān)守行業(yè)道德規(guī)范。我們承諾對(duì)每個(gè)樣品進(jìn)行嚴(yán)格保密，并確保測(cè)試結(jié)果的真實(shí)、準(zhǔn)確?？蛻?hù)的信任是我們的動(dòng)力。

如果您有任何檢測(cè)需求或疑問(wèn)，歡迎隨時(shí)聯(lián)系我們。

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產(chǎn)品的檢測(cè)報(bào)告及檢測(cè)認(rèn)證

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線(xiàn)詢(xún)價(jià)

超聲波檢測(cè)是無(wú)損檢測(cè)方法之一，無(wú)損檢測(cè)是在不破壞前提下，檢查工件宏觀缺陷或測(cè)量工件特征的各種技術(shù)方法的統(tǒng)稱(chēng)。常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法有：超聲檢測(cè) Ultrasonic Testing（縮寫(xiě) UT）；射線(xiàn)檢測(cè) Radiographic Testing（縮寫(xiě) RT）；磁粉檢測(cè) Magnetic particle Testing（縮寫(xiě) MT）；滲透檢驗(yàn) Penetrant Testing （縮寫(xiě) PT）。

超聲探傷產(chǎn)品信息

超聲探傷檢測(cè) ----

1、超聲檢測(cè)

2、超聲波探傷儀

運(yùn)用超聲檢測(cè)的方法來(lái)檢測(cè)的儀器稱(chēng)之為超聲波探傷儀。它的原理是：超聲波在被檢測(cè)材料中傳播時(shí),材料的聲學(xué)特性和內(nèi)部組織的變化對(duì)超聲波的傳播產(chǎn)生一定的影響，通過(guò)對(duì)超聲波受影響程度和狀況的探測(cè)了解材料性能和結(jié)構(gòu)變化的技術(shù)稱(chēng)為超聲檢測(cè)。超聲檢測(cè)方法通常有穿透法、脈沖反射法、串列法等。

常用的探傷儀按照信號(hào)分有模擬信號(hào)(價(jià)格低)和數(shù)字信號(hào)(價(jià)格高, 能自動(dòng)計(jì)算保存數(shù)據(jù))兩類(lèi)，常見(jiàn)的都是屬于A型超聲

超聲波探傷儀的種類(lèi)繁多，但在實(shí)際的探傷過(guò)程，脈沖反射式超聲波探傷儀應(yīng)用的較為廣泛。一般在均勻的材料中，缺陷的存在將造成材料的不連續(xù)，這種不連續(xù)往往又造成聲阻抗的不一致，由反射定理我們知道，超聲波在兩種不同聲阻抗的介質(zhì)的交界面上將會(huì)發(fā)生反射，反射回來(lái)的能量的大小與交界面兩邊介質(zhì)聲阻抗的差異和交界面的取向、大小有關(guān)。脈沖反射式超聲波探傷儀就是根據(jù)這個(gè)原理設(shè)計(jì)的。

3 、探頭

常見(jiàn)探頭分為直探頭（聲波垂直入射，常呈圓柱形）和斜探頭（聲波傾斜入射，常呈長(zhǎng)方體）兩類(lèi)

4、耦合劑

常用機(jī)油、水、米糊等

超聲波的接收和產(chǎn)生原理

超聲波的接收和產(chǎn)生原理相似，當(dāng)超聲波遇到不連續(xù)性時(shí)，即會(huì)產(chǎn)生反射，反射的超聲波使壓電晶片振動(dòng)，繼而在壓電晶片兩端產(chǎn)生電壓。最主要是如何將電脈沖轉(zhuǎn)化為探傷儀屏幕上的波形，模擬機(jī)是通過(guò)顯像管顯示的。顯像管的圖像是電子打在熒光物質(zhì)上，使熒光物質(zhì)發(fā)光；電子經(jīng)過(guò)一個(gè)電場(chǎng)而改變方向，打在屏幕的不同位置，使屏幕顯現(xiàn)圖像。顯像管x方向上的電壓是探傷儀加在壓電晶片上的電壓，y方向的電壓是壓電晶片振動(dòng)產(chǎn)生的電壓，這樣就形成了屏幕上的波形。（其實(shí)電脈沖還要經(jīng)過(guò)放大，整合濾波等一系列過(guò)程才加到顯像管上的）

產(chǎn)生圖像

數(shù)字儀就是對(duì)發(fā)射的電壓和接受的電壓在不同時(shí)間的采樣，采樣信息在通過(guò)芯片將脈沖轉(zhuǎn)化，傳給液晶顯像系統(tǒng)（當(dāng)然，也有的機(jī)型是致場(chǎng)發(fā)光顯示的，顯示原理和顯像管顯示原理差不多），使屏幕的不同的晶體管發(fā)光，就產(chǎn)生圖像了。

超聲探傷方法詳解

超聲波原理

a.始脈波b.底脈波c.缺陷脈波

超聲波在傳播過(guò)程中，當(dāng)遇到兩種不同介質(zhì)的界面或不同密度的材料時(shí)，便會(huì)在交界面上發(fā)生折射或反射。反射式探傷法是利用超聲波在工件的傳播中，能分別在工件的內(nèi)部缺陷及其背面發(fā)生反射，而反射回來(lái)的超聲波通過(guò)超聲波接收器后，又將聲波轉(zhuǎn)為電能，在熒光屏上顯示三者各自的波形圖，始脈波“a”位置即是工件的表面，是發(fā)射超聲波的起點(diǎn)，進(jìn)入工件內(nèi)部的超聲波與工件背面的波形圖即底脈波“b”之間。若無(wú)其他波形出現(xiàn)，則說(shuō)明在該工件中未發(fā)現(xiàn)缺陷。反之，在始脈波與工件底脈波之間，若有其他波形出現(xiàn)，則說(shuō)明工件內(nèi)部缺陷，即缺陷脈波“c”。此時(shí)，可根據(jù)波峰的位置、大小與形狀，估算出工件缺陷的位置、大小與形狀。

關(guān)鍵詞：超聲波探傷儀探傷儀芯片