※樣品特性:
PET薄膜上金屬化膜,真空鍍膜和噴鍍工藝形成,金屬膜厚度極薄,附著力差,容易脫落。
※測(cè)試難點(diǎn):
蘇州晶格薄膜專用測(cè)試探頭自帶彈簧收縮功能,很好的解決了金屬膜的測(cè)試弱點(diǎn),自主研發(fā)的高精準(zhǔn)度四探針測(cè)試儀和專用型測(cè)試臺(tái)搭配,讓樣品測(cè)試數(shù)據(jù)更穩(wěn)定,重復(fù)性更好。
※方案要點(diǎn):
測(cè)試探頭測(cè)試臺(tái),首先優(yōu)選行業(yè)專用的平行四刀法,其次是導(dǎo)電橡膠探針的四探針法。再其次是普通薄膜測(cè)試探針的四探針法。
測(cè)試儀優(yōu)選低壓小電流測(cè)試,有開路電壓限壓保護(hù)的功能。
整套晶格電容器金屬化膜方塊電阻測(cè)試儀器包括:探頭、測(cè)試臺(tái)、測(cè)試儀。 若選擇晶格 SZT-I測(cè)試臺(tái)則不需要選購(gòu)探頭。
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