AZtecLive是一種EDS分析方法,可以改變用戶(hù)在SEM中進(jìn)行樣品篩選的方式。它將實(shí)時(shí)電子圖像與實(shí)時(shí)X射線元素成像結(jié)合起來(lái),為客戶(hù)提供了一種更為直觀的與樣品互動(dòng)的新方式。Ultim Max采集效率可達(dá)以往的17倍,而且不會(huì)降低精度。無(wú)論您是想做更大區(qū)域的面掃描,或者在每個(gè)點(diǎn)分析中獲得更好的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),更快地采集數(shù)據(jù),還是研究小的納米結(jié)構(gòu),Ultim Max都是SEM中X射線分析的理想工具。
速度
低噪音電子元器件和X4脈沖處理器的結(jié)合,使Ultim Max能夠在1,500,000 cps的計(jì)數(shù)率下對(duì)樣品進(jìn)行面分析,并在400,000 cps計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量。
靈敏度
晶體尺寸有著很大影響。使用Ultim Max的大面積晶體(100 mm2和170 mm2),可大幅提高分析條件下的計(jì)數(shù)率。