產(chǎn)品描述
瑞士博勢 Proceq Equotip 550 Rockwell硬度計-----便攜式靜態(tài)硬度檢測,Proceq Equotip 550 Rockwell便攜式硬度計測試原理遵循傳統(tǒng)的羅克韋爾（Rockwell）靜態(tài)測試方法，特別適用于刮擦，磨光或薄壁部件以及型材和管道。結(jié)合Proceq Equotip Leeb沖擊裝置，Proceq Equotip 550可以根據(jù)動態(tài)（反彈）方法按照里氏硬度原理進行擴展。這另外允許Leeb與便攜式Rockwell真實凹痕硬度值的現(xiàn)場自動關(guān)聯(lián)。固定式硬度測試儀只能容納有限尺寸的測試件。 Proceq Equotip 550便攜式羅克韋爾的便攜性適用于戶外，工廠和實驗室環(huán)境。
| 特點 | ||
  | HRC和HV中的測量結(jié)果自動轉(zhuǎn)換為HB，HRA，HRB以及更多通用尺度，符合ASTM E140和ISO 18265 算法選項，用于更快的測量、探頭可以直接連接到PC | |
專用于細小部件
| 配件 | 測量夾 |
| 圓形標準腳（磁性） 適用于扁平部件和邊緣距離大于 10 mm 的檢測位置。 三腳架的腳 專為要求精確定位的檢測件（焊接、受 熱區(qū)域）而設(shè)計。 特殊腳 RZ 18-70 和 70-∞ 專為彎曲的測試件（例如圓柱形部件、管子、導(dǎo)管）而 設(shè)計。 | 支撐裝置 Z1 對于扁平部件，*大 40 mm 厚度 支撐裝置 Z2 對于細小的圓柱形部件、電線、 螺栓，*小直徑 3 mm 支撐裝置 Z4 適用于直徑不超過 28 mm 的管子和導(dǎo)管 支撐裝置 Z4+28 適用于直徑超過 28 mm 的管子 和導(dǎo)管 |
Equotip Portable Rockwell 的測量原理沿用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測法。使用 Equotip Portable Rockwell 探頭測量期間，使用準確的控制力將金剛石壓頭壓入待測件中。在施加負載并釋放的同時，連續(xù)測量金剛石壓頭的壓入深度。通過記錄施加兩個限定負載時的壓入深度 d1 和 d2 來計算差異： Δ = d2 – d1。這通常稱為塑性變形。
| Equotip 550 Rockwell便攜式硬度計技術(shù)規(guī)格 | |
| 原理 | Portable Rockwell 50N （靜態(tài)）： 測量壓入到測試件中的 金剛石的壓痕深度 |
| 標準 | DIN 50157 |
| 測量時間 | *多 5 秒 |
| 原始單位 | μm, μinch |
| 可用單元 | HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, HMMRC, MPA |
| 拓展檢測方法用 | 里氏, UCI |
| 探頭 | 50N |
| 可測對象 | 細小對象、極薄對象、拋光對象、圓形小對象、中等大小對象，非常堅硬對象、大型對象 |
| 顯示屏 | 7” 彩色觸摸屏（800 x 480 像素） |
| 內(nèi)存 | 內(nèi)部 8 GB 閃存（> 1’000’000 測量值） |
| 數(shù)據(jù)連接 | USB，以太網(wǎng)和免費軟件 |
| 電源 | 可更換電池（> 8 小時電池使用壽命） |
| 語言 | 支持 11 種語言和時區(qū) |
| 個性化 | 用戶配置文件，用戶視圖 |
| 用戶指導(dǎo) | 屏幕提示，向?qū)Ш碗娮邮謨?/span> |
| 報告 | PC 軟件，直接報告和自定義報告 |
| 測量配件 | 3 特殊支腳，帶 3 個特殊 支撐平臺的測量夾鉗 |
| 校準塊 | 16測試塊 |
| Equotip Portable Rockwell 配件 354 01 200 Equotip Portable Rockwell 測量夾 354 01 130 Equotip Portable Rockwell 三角架 354 01 250 Equotip Portable Rockwell 特殊腳 RZ 18 - 70 354 01 253 Equotip Portable Rockwell 特殊腳 RZ 70 - ∞ 354 01 243 Equotip Portable Rockwell 支持 Z2 測量夾 354 01 229 Equotip Portable Rockwell 支持 Z4+28 測量 夾（適用于直徑大于 28 毫米的管子和導(dǎo)管） 354 01 228 Equotip Portable Rockwell 支持 Z4 測量夾 （適用于直徑不超過 28 毫米的管子和導(dǎo)管） | Equotip Portable Rockwell 測試塊 由機構(gòu)校準 |
