日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 I
掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術(shù)、生命科學(xué)、產(chǎn)品設(shè)計研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。FlexSEM 1000主機寬450mm、長640mm，相比SU1510型號體積減小52%，重量減輕45%，功耗減小50%，且配備標(biāo)準(zhǔn)化的電源接口。主機與供電單元可分離，安裝非常靈活。 近年來，掃描電鏡觀察表面精細(xì)結(jié)構(gòu)及元素分析的需求日趨增加，而越來越多的用戶希望能在生產(chǎn)線、品保檢驗線和辦公區(qū)等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此，體積小、操作簡便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機寬450mm、長640mm，相比SU1510型號體積減小52%，重量減輕45%，
此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP"，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點，實現(xiàn)最直觀的視野移動。FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。
全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP"，支持觀察時的視野搜索和樣品定位
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現(xiàn)4.0 nm的分辨率
憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現(xiàn)清晰的畫質(zhì)
大直徑（30毫米2）無氮EDS檢測器，可快速進行元素分析*2
*1設(shè)置到桌面上時，請將機體與電源盒分離
*2選項
