應(yīng)用
（1）電合成、電沉積（電鍍）、陽極氧化、電解等反應(yīng)機理研究；
（2）電化學(xué)分析研究；
（3）能源材料（鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等）、功能材料以及傳感器的性能研究；
（4）金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價；
（5）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護效率的快速評價。
● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
● 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V（可擴展至±200V）
● 電流控制范圍：±2.0A（可擴展至20A）
● 電位分辨率：10μV，電流分辨率：1pA（可延伸至100fA）
軟件特點
① 數(shù)據(jù)分析
（1）電合成、電沉積（電鍍）、陽極氧化、電解等反應(yīng)機理研究；
（2）電化學(xué)分析研究；
（3）能源材料（鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等）、功能材料以及傳感器的性能研究；
（4）金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價；
（5）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護效率的快速評價。
硬件特點
● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器
● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
● 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V（可擴展至±200V）
● 電流控制范圍：±2.0A（可擴展至20A）
● 電位分辨率：10μV，電流分辨率：1pA（可延伸至100fA）
① 數(shù)據(jù)分析
伏安曲線的平滑、積分和微分運算，計算各氧化還原峰的峰電流、峰電位和峰面積等；
極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學(xué)解析，計算Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，極限擴散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等，還可由電化學(xué)噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
② 實時存儲 CS Studio實時存儲測量數(shù)據(jù)，即使因斷電導(dǎo)致測試中斷，中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。
③ 定時測量 CS Studio測試軟件具有定時測量功能， 對于某些需要研究體系隨時間變化特征時，可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間，讓儀器在無人值守下自動定時測量，為實驗提供方便。
CS單通道系列不同型號功能方法比較
CS單通道系列不同型號功能方法比較
| 功能方法 | CS150H | CS300H | CS310H | CS350H | |
| 穩(wěn)態(tài)極化 | 開路電位（OCP） | ● | ● | ● | ● |
| 恒電位極化（i-t曲線） | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流極化 | ● | ● | ● | ● | |
| 動電位掃描（Tafel曲線） | ● | ● | ● | ● | |
| 動電流掃描（DGP） | ● | ● | ● | ● | |
| 電位掃描-階躍 | ● | ||||
| 暫態(tài)極化 | 任意恒電位階梯波 | ● | ● | ● | ● |
| 任意恒電流階梯波 | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電位階躍（VSTEP） | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流階躍（ISTEP） | ● | ● | ● | ● | |
| 計時分析 | 計時電位法（CP） | ● | ● | ● | |
| 計時電流法（CA） | ● | ● | ● | ||
| 計時電量法（CC） | ● | ● | ● | ||
| 伏安分析 | 線性掃描伏安（LSV） | ● | ● | ● | ● |
| 線性循環(huán)伏安（CV） | ● | ● | ● | ● | |
| 階梯循環(huán)伏安（SCV） | ● | ● | |||
| 方波伏安（SWV） | ● | ● | |||
| 差分脈沖伏安（DPV） | ● | ● | |||
| 常規(guī)脈沖伏安（NPV） | ● | ● | |||
| 差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV） | ● | ● | |||
| 交流伏安（ACV） | ● | ● | |||
| 二次諧波交流伏安（SHACV） | ● | ● | |||
| 傅里葉變換交流伏安（FTACV） | ● | ● | |||
| 電流檢測 | 差分脈沖電流檢測（DPA） | ● | |||
| 雙差分脈沖電流檢測（DDPA） | ● | ||||
| 三脈沖電流檢測（TPA） | ● | ||||
| 積分脈沖電流檢測（IPAD） | ● | ||||
| 溶出伏安 | 電位溶出分析（PSA） | ● | ● | ||
| 線性掃描溶出伏安（LSSV） | ● | ● | |||
| 階梯溶出伏安（SCSV） | ● | ● | |||
| 方波溶出伏安（SWSV） | ● | ● | |||
| 差分脈沖溶出伏安（DPSV） | ● | ● | |||
| 常規(guī)脈沖溶出伏安（NPSV） | ● | ● | |||
| 差分常規(guī)脈沖溶出伏安（DNPSV） | ● | ● | |||
| 交流阻抗 | 阻抗-頻率掃描 | ● | ● | ||
| 阻抗-時間掃描 | ● | ● | |||
| 阻抗-電位掃描（Mott-Schottky 曲線） | ● | ● | |||
| 充放電測試 | 電池充放電 | ● | ● | ● | ● |
| 恒電流充放電（GCD） | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電位充放電 | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電位間歇滴定技術(shù)（PITT） | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流間歇滴定技術(shù)（GITT） | ● | ● | ● | ● | |
| 雙恒測量 | 氫擴散測試（HDT） | ||||
| 盤環(huán)電極測試 | |||||
| 擴展測量 | 電化學(xué)噪聲（EN） | ● | ● | ● | ● |
| 數(shù)字記錄儀 | ● | ● | ● | ● | |
| 電化學(xué)溶解/沉積 | ● | ● | ● | ● | |
| 控制電位電解庫倫法（BE） | ● | ● | ● | ● | |
| 動電位再活化法（EPR） | ● | ● | ● | ● | |
| 溶液電阻測量 | ● | ● | ● | ● | |
| 循環(huán)極化曲線（CPP） | ● | ● | ● | ● | |
注：*氫擴散及旋轉(zhuǎn)盤環(huán)電極測試需配置CS1002恒電位/恒電流儀或采用CS2350雙恒電位儀。
*光電測量功能用戶選配。
*產(chǎn)品3年質(zhì)保。
*光電測量功能用戶選配。
*產(chǎn)品3年質(zhì)保。
