BW-IOL-X16M
半導(dǎo)體間歇壽命溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)
■適用于各種封裝的IGBT、Si/SiC/GaN、MOSFET、BTJ進(jìn)行K系數(shù)測(cè)試、穩(wěn)態(tài)熱阻測(cè)試及功率循環(huán)試驗(yàn)。
■符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求。
■試驗(yàn)線路及試驗(yàn)方法滿足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求
■系統(tǒng)平均無問題運(yùn)行時(shí)間≥10000 小時(shí)
■每通道為 48 工位,48 工位中每個(gè)工位可進(jìn)行 Tj 測(cè)試
技術(shù)特點(diǎn) Technical characteristics
■在試驗(yàn)的過程中實(shí)時(shí)測(cè)量被試器件的結(jié)溫,并顯示max結(jié)溫、min結(jié)溫及結(jié)溫差。
■試驗(yàn)的過程定時(shí)測(cè)量被試器件的結(jié)殼熱阻,有利于觀察試 驗(yàn)過程中熱阻值的變化。
■設(shè)備帶有煙霧探測(cè)器,系統(tǒng)探測(cè)到煙霧后自動(dòng)停止。
■所有工位并聯(lián)試驗(yàn),試驗(yàn)電流保持一致;
■每個(gè)通道進(jìn)行獨(dú)立配置,可以設(shè)置不同的試驗(yàn)電流和開通關(guān)斷 時(shí)間