HS800型便攜式TOFD超聲波檢測儀
TOFD Ⅱ級培訓考核儀器 可為您“量身”定制各類掃查裝置
通過國家質(zhì)監(jiān)總局科技鑒定（，）

HS800 內(nèi)置P掃描成像系統(tǒng)（聲定位掃查）

P掃描成像即投影成像，一改傳統(tǒng)機械編碼器定位方式，采用全新四通道聲定位系統(tǒng)，避免各種外界磁場干擾，對探頭聲束精確定位。內(nèi)置閘門高度及DAC曲線兩種靈敏度成像模式，同時顯示C掃描圖像（俯視）、D掃描圖像（側(cè)視）、B掃描圖像（平視）、A掃描圖像，可對缺陷進行空間位置和形狀上的評估。

HS800性能特點

A 特優(yōu)點

超高亮彩色液晶顯示器
全中文菜單操作模式，方便快捷
缺陷A掃、厚度B掃、B掃、P掃、D掃全屏直觀顯示
超聲衍射波探傷，解決傳統(tǒng)探傷單次掃查區(qū)域的局限性和不直觀性
多通道TOFD探傷，實現(xiàn)焊縫非平行掃查一次性全面覆蓋
便攜掃查器代替手工掃查，探傷更快、更精確
高性能安保鋰電，模塊插接，一機兩電，超長續(xù)航
超大機內(nèi)存儲空間，探傷數(shù)據(jù)回放及離線分析

B 數(shù)字電路
頻率帶寬：0.5~15MHZ
采樣頻率：125M
脈沖電壓：-400V
采樣延時：1200mm
重復頻率：125HZ
脈沖前沿：15ns
檢波方式：數(shù)字檢波方式
匹配阻抗：25Ω、500Ω2檔可調(diào)
閘門數(shù)：每通道2個位
增益范圍：0dB~110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步進，全自動調(diào)節(jié)）

C 掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測全面覆蓋200mm厚度以內(nèi)焊縫的分區(qū)掃查
D 探傷功能
缺陷定位：數(shù)據(jù)分析線能直接讀出缺陷深度以及非點狀缺陷的自身高度
掃查方式：可對焊縫進行全面的平行和非平行掃查
焊縫內(nèi)部缺陷顯示：直觀顯示焊縫中缺陷的位置和上下端點位置
B型掃描：實時顯示缺陷截面形狀
A型掃描：射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力
D型掃描：實時顯示缺陷的灰度掃查圖，直觀顯示缺陷并對缺陷模式進行評價
E數(shù)據(jù)存儲與輸出
1通道、5通道、7通道三種可選，預先調(diào)校好各類探頭與儀器的組合參數(shù)，方便存儲、離線分析、復驗、打印、通訊傳輸
支持USB、LAN、VGA輸出
超大內(nèi)存容量，單次掃查即能記錄長達2米被檢工件內(nèi)部缺陷的檢測圖

HS800技術(shù)參數(shù)
最多連接探頭： 10
獨立工作通道：可根據(jù)儀器配置選擇通道數(shù)，最多可選7個通道
增益范圍： 110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步進，全自動調(diào)節(jié)）
脈沖類型：負放電脈沖
波形顯示方式：射頻波，檢波（全檢、負或正半檢波），信號頻譜（FFT）
聲速范圍：(300~20000)m/s
掃查定位：時基（內(nèi)置實時時鐘-0.02秒精度）/真實位置（增量編碼器-0.5mm精度）
掃描延時：0~500us可控0.008us精度
直線掃查長度：50~2000mm自動滾屏
成像模式：根據(jù)選擇的操作模式和相應的儀器設(shè)置顯示厚度B掃、B掃、D掃、P掃、TOFD圖象
離線分析：恢復和回放掃查時記錄的A掃波形
缺陷尺寸和輪廓
厚度/幅度數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析
記錄轉(zhuǎn)換到ASCⅡ/MS Word/MS Excel格式報告
記錄方法：原始數(shù)據(jù)記錄
數(shù)據(jù)報告：直接打印校驗表、A掃、頻譜圖、厚度B掃圖象、B掃圖象、TOFD圖象、D掃圖象、P掃圖象