一、產(chǎn)品簡介
Zeta納米粒度及Zeta電位儀是全新開發(fā)的測量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術(shù)SLS,可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。
二、主要技術(shù)指標(biāo)與性能
粒徑檢測 | ||
粒徑范圍 | 0.3nm ~ 15μm* | |
樣品量 | 3μL* | |
檢測角度 | 90° | |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN | |
靈敏度 | 甲苯 > 20kcps | |
Zeta電位測試 | ||
檢測角度 | 12° | |
Zeta范圍 | 無實(shí)際限制 | |
電泳遷移率范圍 | > ±20μm.cm/V.s | |
電導(dǎo)率范圍 | 260mS/cm* | |
粒徑范圍 | 2nm ~ 110μm* | |
樣品量 | 0.75mL | |
分子量測試 | ||
分子量范圍 | 342Da ~ 2 x 107Da* | |
趨勢測量 | ||
模式 | 時間 | |
粘度測試 | ||
粘度范圍 | 0.01cp ~ 100cp* | |
相互作用力因子 | ||
kD | 無實(shí)際限制 | |
系統(tǒng)參數(shù) | ||
溫控范圍 | -10°C ~ 110°C +/- 0.1°C | |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/font> | |
標(biāo)準(zhǔn)激光光源 | 50mW 高性能固體激光器,671nm | |
相關(guān)器 | 4000通道,1011動態(tài)線性范圍 | |
檢測器 | APD(高性能雪崩光電二極管) | |
光強(qiáng)控制 | 0.0001% ~ 99%,手動或者自動 | |
尺寸 | 長寬高 62.5 x 40 x 24.5cm (22 kg) | |
電源 | 適配器 100 ~ 240V, 50/60Hz,200W | |
符合標(biāo)準(zhǔn) | ISO13321, ISO22412,ISO13099-1,ISO13099-2 | |
選配 | 可拋棄微量樣品池 | 40μL ~ 50μL |
石英玻璃微量樣品池 | 25μL ~ 50μL | |
石英玻璃圓孔樣品池 | 1mL ~ 1.5mL | |
毛細(xì)管微量池 | 3μL ~ 5μL | |
插入式電極 | 有機(jī)相體系Zeta電位測試 |