hast老化試驗(yàn)箱是一種用于模擬電子元器件、機(jī)械零件等在高壓力、高溫、高濕度等惡劣環(huán)境下長期工作的設(shè)備，從而分析其使用壽命、故障分布函數(shù)、失效率上升的原因等。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、航空航天、汽車、電子電器、科研等領(lǐng)域。

特點(diǎn)

1.采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率。

2.獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3.門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

4.試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

5.超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).

6.水位保護(hù)，透過試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

7.tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.

8.二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.

9.安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

10.偏壓測試端子耐壓可達(dá)3000V(選配）

11.USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

箱子尺寸

4.1.內(nèi)箱尺寸 HAST-40（∮400 mm x L500 mm）圓型試驗(yàn)箱

4.2.外型尺寸(約) 約1150x 980 x 1850 mm ( W * D * H )立式

五、性能指標(biāo)

1.設(shè)定溫度: +105 ℃ ～ +147 ℃( 蒸氣溫度 )

2.濕度范圍：75~100 % 蒸氣濕度

3.濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH

4.使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

5.時(shí)間范圍: 0 Hr ～ 999 Hr

6.加壓時(shí)間: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 約 45 分

7.溫度波動均勻度 : ±2℃

8.溫度顯示精度：0.1℃

9.壓力波動均勻度 : ±0.1Kg

10.濕度分布均度：±3%RH

hast老化試驗(yàn)箱的主要技術(shù)參數(shù)包括溫度范圍、濕度范圍、壓力范圍等，可以根據(jù)不同客戶的需求進(jìn)行定制。同時(shí)，該設(shè)備還配備了多種安全裝置，如鍋內(nèi)安全裝置、安全閥、雙重過熱保護(hù)裝置等，以確保試驗(yàn)過程的安全可靠。