ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1
”Crystalline Tester CS1”是非破壞性、非接觸式檢測可見光(波長400~800nm)透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。通過本設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。
ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1
產(chǎn)品特征
產(chǎn)品特長 |
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可測量材料 |
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測試效果不佳材料 | ?無可視光透視性材料:Si、GaAs等 |