X射線熒光分析儀X-50,X-200,X-500
激光誘導擊穿光譜儀Z-900
X射線熒光分析儀(XRF)不僅可以識別構成樣品的元素,還可以通過檢測用X射線照射樣品而產(chǎn)生的每種元素的熒光X射線來分析其成分比例。XRF原則上是一種非破壞性、非侵入性測量設備。
應用包括采礦領域采礦和試鉆過程中的礦物分析、工業(yè)領域材料等金屬和合金的識別和分選、RoHS和CPSIA等安全合規(guī)性測試以及利用手持功能的SDG領域。預計將應用于廣泛的領域,包括廢品工廠廢舊金屬的識別和分選、環(huán)境領域的土壤污染調查以及利用其非侵入性特性對藝術品和工藝品進行鑒定。
X-50系列是一款低價型號??梢岳肵RF功能,并以與型號相同的用戶界面,而價格僅為旗艦型號的 50%。
品牌:NIRECO株式會社ニレコ
名稱:X射線熒光分析儀
型號:X-50
X射線管電壓和靶材 | 40kV Rh管或50kV Au管 |
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探測器 | 7mm 2 PIN 二極管探測器 |
工作環(huán)境溫度 | -10°C 至 50°C(25% 占空比) |
電源 | 可以使用鋰離子電池(可拆卸)和隨附的交流適配器進行操作 |
展示 | 3.5英寸彩色觸摸屏 |
數(shù)據(jù)傳輸 | USB、WiFi、藍牙 |
樣本記錄 | 配備兩個攝像頭:照射窗攝像頭和全景攝像頭。 |
重量 | 1.4kg(含電池) |