加工定制 | 否 |
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品牌 | Mitutoyo/三豐 |
型號 | WKL-702 |
WKL-702顆粒圖像分析儀
工作原理: WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統(tǒng),由光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行處理分析,具有直觀、形象、準確和測試范圍寬等特點??梢杂^察顆粒形貌,也可得到粒度分布等分析結果。 技術參數(shù) 測量范圍:1~3000微米 光學放大倍數(shù):1600倍 分辨率:0.1微米/像素 準確性誤差:<±3%(國家標準物質) 重復性偏差:<±3%(國家標準物質) 數(shù)據(jù)輸出:周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當徑分布、面積相當徑分布、Feret徑分布、長短徑比、中間(D50)、有效粒徑(D10)、限定粒徑(D60、D30、D97)、個數(shù)長度平均徑、個數(shù)面積平均徑、個數(shù)體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)、曲率系數(shù)。 配置參數(shù)(配置1國產(chǎn)顯微鏡)(配置2進口顯微鏡) 三目生物顯微鏡:平場目鏡:10×、16× 消色差物鏡:4×、10×、40×、100× (油) 總放大倍數(shù):40×-1600× 攝像機:300萬像素數(shù)字CCD(標準C接頭) 應用范圍 適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析。 軟件功能及報告輸出格式 1、可以對圖像進行多項處理:如:影像增強、圖像疊加、局部提取、定向放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)等幾十種功能。 2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。 3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖