日本 humo 絕緣測試壓力計 HIT-250
使用內(nèi)置電源時，可以在最大 250V 的電壓下進行絕緣測試；使用外部電源時，可以在最大 1kV 的電壓下進行絕緣測試。即使是2端子連接也可以進行接觸檢查。無需使用外部開關繼電器即可測量晶體端子之間的絕緣以及封裝與端子之間的絕緣。
基本規(guī)格
通道數(shù)1
輸出電壓 輸入外部電源時DC1 至 250V ±1%±0.3V DC1 至 1kV 5mA max
測量時間 50ms～9999ms
充電電流 5mA±2mA
測量精度
根據(jù)流過被測物的電流，范圍如下
： 100pA～1nA：±10%
1mA～10nA：±3%
10nA～100μA：±1%
-----------------------------------------------
接觸檢測范圍0.1pF以上
接觸檢測頻率1.9MHz～2.1MHz
日本 humo 絕緣測試壓力計 HIT-250
使用內(nèi)置電源時，可以在最大 250V 的電壓下進行絕緣測試；使用外部電源時，可以在最大 1kV 的電壓下進行絕緣測試。即使是2端子連接也可以進行接觸檢查。無需使用外部開關繼電器即可測量晶體端子之間的絕緣以及封裝與端子之間的絕緣。
基本規(guī)格
通道數(shù)1
輸出電壓 輸入外部電源時DC1 至 250V ±1%±0.3V DC1 至 1kV 5mA max
測量時間 50ms～9999ms
充電電流 5mA±2mA
測量精度
根據(jù)流過被測物的電流，范圍如下
： 100pA～1nA：±10%
1mA～10nA：±3%
10nA～100μA：±1%
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接觸檢測范圍0.1pF以上
接觸檢測頻率 1.9MHz～2.1MHz
