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RF射頻芯片的HAST高加速老化測試 試驗箱

HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗機,是用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設備

其目的是提高環(huán)境應力與工作應力、加快試驗過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。

RF射頻芯片的HAST高加速老化測試 試驗箱 產(chǎn)品特點

1.HAST高壓加速老化試驗機采用較新優(yōu)化設計,美觀大方，做工精細

2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)

3.大容量水箱,試驗時間長,全自動補水，試驗不中斷

4.與試樣數(shù)量相吻合的試樣信號施加端了

5.采用觸摸屏，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能

6.采用高效真空泵，使箱內達到較佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)

7.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長

8.多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。

9.可根據(jù)客戶不同需求定制專用HAST試驗設備（如: HAST內箱尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測試需要）

滿足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 規(guī)范要求

3種控制模式包含：不飽和控制(干濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。

高壓加速老化試驗箱采用優(yōu)化設計，美觀大方、做工精細，對應 IEC60068-2-66 條件

具有直接測量箱內溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗結束后壓力溫度的急變，保證試驗結果的正確。

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）