20/30 XL顯微分光光度計的設計允許您測量具有微觀特征的大尺度樣品的光譜，圖像，和薄膜厚度。“XL”代表“超大”，具有微觀特征的大尺度樣品是20/30 XL的樣本類型。為滿足您的需求，20/30 XL集成了光學、電子、光譜學和軟件方面的，以的速度和能力提供的性能。甚至CRAIC儀器的易用性得到了極大的改進，使其成為紫外-可見-近紅外顯微光譜學的。
20/30 XL顯微分光光度計允許您測量UV-visible-NIR范圍內(nèi)的透射，吸光度，反射率，發(fā)射和光致發(fā)光微光譜的特征，樣品尺寸小于一微米的跨度。然而，根據(jù)儀器的配置，樣品的大小基本上可以是無限的?，F(xiàn)在你可以在的平板顯示器像素內(nèi)繪制顏色變化，輕松測量300mm晶圓的薄膜厚度，或測量藝術品的熒光。
同時，20/30 XL也可提供拉曼顯微光譜，高分辨率紫外顯微光譜，甚至近紅外顯微鏡光譜的測量。
20/30 XL顯微分光光度計使用簡單，提供無損測量和的光譜數(shù)據(jù)。
主要特性：
大樣品的UV-visible-NIR, Raman和PL微光譜
? 大尺寸樣品的顯微分析
? 光譜范圍：200-2500nm
? 紫外-可見-近紅外透射顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外透射成像
? 紫外-可見-近紅外反射顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外反射成像
? 紫外-可見-近紅外熒光顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外熒光顯微成像
? 拉曼顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的偏振顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的偏振微區(qū)成像
? 薄膜厚度測量
? 微觀樣品的色度測量
? 手動或全自動操作
? 配備Lightblades技術
? 集成TE制冷陣列探測器以提供超低噪聲和長期穩(wěn)定性
? 樣品溫度的精確控制
? 對樣品上小于一微米區(qū)域的校準和變量測量
? 同時使用目鏡和數(shù)字成像的成像功能
? 搭配Lambdafire光譜，成像控制及分析軟件。Lambdafire同時包括觸摸屏控制
? 專業(yè)的軟件模塊，包括統(tǒng)計分析，光譜數(shù)據(jù)庫，成像分析等
? 易于使用和維護
? 來源于顯微光譜領域?qū)＜?/p>
紫外-可見-近紅外顯微光譜
該儀器是一個集成的顯微光譜單元，光譜范圍包括從紫外到可見到近紅外。可同時對采樣孔徑和樣品直接成像從而進行快速精確的測量。20/30XL搭載Lightblades技術，即便尺寸在亞微米樣品的透射，反射，偏振，熒光光譜也能測量。CRAIC Technologies也是美國國家標準技術研究所（NIST）可追溯分光光度計標準認可的來源。
拉曼顯微分光光度計
靈活的拉曼顯微分光光度計
當裝配上CRAIC Apollo拉曼光譜儀模塊時，20/30XL就具備了拉曼功能，能夠?qū)︼@微樣品進行拉曼測量，共振拉曼測量，以及其它類型的測量。模塊包括激光器，拉曼光譜儀以及能夠收集樣品的高質(zhì)量拉曼光譜的光學接口。
熒光
高靈敏度發(fā)射顯微光譜&成像
對20/30XL進行一定配置，可獲得顯微樣品的熒光和冷光光譜和成像。搭載Lightblades技術，光譜范圍擴展到從深紫外到近紅外，并且能夠在同一光譜范圍測量發(fā)射光譜，因此，20/30XL是材料科學，生物，地理等學等學科中測量顯微熒光的有力工具。
紫外-可見-近紅外偏振光的顯微光譜&成像
對20/30XL進行一定配置，即便是最小的樣品，也能獲得其偏振光譜和成像。搭載Lightblades技術以及從深紫外到近紅外光譜范圍使得20/30XL成為性能的偏振顯微分光光度計。具有雙折射或其他類型偏振特性的樣品通過這個精良的系統(tǒng)可以快速便捷的獲得其光譜和成像。
光譜表面繪圖
結(jié)合硬件和軟件對具有微觀空間分辨率的樣品進行自動光譜分析，可生成樣品的吸收，透射，反射，熒光，發(fā)射和拉曼光譜的3D繪圖。
紫外-可見-近紅外的成像質(zhì)量
20/30XL包括了一個的配有科研級光學器件的紫外-可見-近紅外顯微鏡?？稍谧贤?可見-近紅外區(qū)域進行高分辨數(shù)字成像。20/30XL擁有精良的圖像處理軟件。這使得20/30XL在進行透射，反射，偏振和熒光顯微檢測的時候，能夠快速便捷的實時觀測和捕捉圖像。
? 半導體膜厚
? MEMS器件
? 太陽能光伏板
? 平板顯示器的比色法
? 平面顯示器的強度Mapping
? 顯微光譜的問題文件
? Microspectra藝術作品
? 或任何其他大規(guī)模樣品…
支持
CRAIC Technologies為的CRAIC設備提供服務和支持。CRAIC Technologies服務工程師對CRAIC Technologies產(chǎn)品提供的設備修理，維護，培訓和技術支持。
