產(chǎn)品詳情TSI 的 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀是一種高分辨率納米粒子粒徑分析儀，長期以來一直被譽為是進行包括納米研發(fā)在內(nèi)的納米應用納米粒徑表征的研究人員之選擇。 TSI 的 SMPS™ 粒徑譜儀廣泛用作檢測空氣懸浮粒子粒徑分布的標準方法。這些粒徑譜儀也經(jīng)常用于對液體中懸浮的粒子進行精確的納米粒徑檢測。.美國國家標準與技術(shù)研究所 (NIST) 采用 TSI DMA 對液體中懸浮的 60nm 和 100nm 標準參考物質(zhì)進行分粒（聚苯乙烯乳膠球或 PSL 球）。 SMPS™ 粒徑譜儀粒徑檢測技術(shù)是一種謹慎的技術(shù)，它可直接檢測粒子濃度，而無需假定粒子尺寸分布形狀。這種方法獨立于粒子或流體的折射率，具有高度的尺寸精度和檢測可重復性。TSI 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀 (SMPS) 深受科研人員的信賴，已提供了三十多年的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。 特點和優(yōu)勢
應用范圍
所含項
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3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀 產(chǎn)品信息
關(guān)鍵詞：環(huán)境監(jiān)測
