瑞士CSM 納米壓痕測試儀(NHT2)

符合 ISO 與 ASTM 國際標準

儀器簡介：
CSM NHT2 （NHT第二代）納米壓痕測試儀采用了UNHT（CSM超納米壓痕儀）的技術(shù)，其靈敏度及噪音水平和穩(wěn)定性得以顯著提高。采用的top reference（表面參比測試技術(shù)）設(shè)計, NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應（thermal drift）降低到了0.02nm/s的水平?？蛻舨恍枰浖M近似扣除即可獲得可靠、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)，也不需要長期甚至隔夜的穩(wěn)定時間，對實驗室的環(huán)境要求大為降低。

儀器應用：

NHT2 納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。可適用于有機或無機、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學薄膜，微電子鍍膜，保護性薄膜，裝飾性薄膜等等。基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導體、玻璃、礦物和有機材料等。

主要特點：

的參比環(huán)設(shè)計-實時消除大部分熱漂移

帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng)

靈活的試樣夾具可夾持各種尺寸試樣（無需用膠粘結(jié)試樣）

高質(zhì)量金相顯微鏡觀測系統(tǒng)

計算機軟件包，自動進行數(shù)據(jù)獲取、儲存、分析等

豐富、靈活的擴展空間

技術(shù)參數(shù)：

載荷范圍：0-500mN

載荷分辨率：40nN

壓入深度：200um

位移分辨率： 0.004nm

選件：

其它力學測試模塊（如微納米劃痕、超納米壓痕等）

真空及環(huán)境(溫度、濕度）控制

原子力顯微鏡成像系統(tǒng)

環(huán)境隔離罩