供應(yīng)牛津儀器加深臺面的X射線熒光鍍層測厚儀X-Strata920是非接觸式的無損鍍層測厚儀，廣泛應(yīng)用于PCB、FPC、SMT、LED、連接器、端子、緊固件、五金、衛(wèi)浴等行業(yè)及檢測中心、高等院校。
供應(yīng)牛津儀器加深臺面的X射線熒光鍍層測厚儀X-Strata920主要特點：
可測元素范圍：鈦Ti22---鈾U92；
可測定5層（4層鍍層 底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線；
進行貴金屬檢測，如Au karat評價；
材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；
測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結(jié)果精確至μin；
強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能，測量結(jié)果輸出多樣化；
擁有NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片；
提供服務(wù)及。
測量原理：
對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
售后服務(wù)：
儀器享有自安裝之日計起為期1年的質(zhì)量保證期，終身享有保修服務(wù)
如有任何需要請按以下聯(lián)絡(luò)我公司，我們將為你提供快速優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。
供應(yīng)牛津儀器加深臺面的X射線熒光鍍層測厚儀X-Strata920技術(shù)參數(shù)：
| 型號 | P920-S | P920-MWS | P920-MWM | P920-AM | |||
| 名稱 | 半自動 | 自動臺 | |||||
| 固定臺 | 單準(zhǔn)直器加深臺 | 多準(zhǔn)直器加深臺 | |||||
| 樣品圖片 |
|
|
| ||||
| 測量元素范圍 | Ti22---U92 | ||||||
| 鍍層和成分分析 | l 鍍層：zui多同時測定5層（4層鍍層 基體材料）鍍層 l 成分：zui多同時測量25種元素 | ||||||
| 測量方法 | l SmartLinkâFP（基本參數(shù)法） l 儀器預(yù)裝超過800種應(yīng)用參數(shù)/方法 l 簡單直觀步驟建立應(yīng)用 | ||||||
| X射線激發(fā) | l 50kV、1.0mA(50W) l 空冷式微聚焦W靶X射線管，Be窗 l 垂直下照式X射線光學(xué)系統(tǒng) l 安全防射線光閘 l 二次濾波組件，可選三個程控交換的濾波器，有效于X射線重疊譜的修正 | ||||||
| 成像系統(tǒng) | l 彩色視頻系統(tǒng) l 光學(xué)放大：30倍，可選項50倍 l 數(shù)字放大200% l 激光自動對焦 l 被測樣品圖像實時顯示功能 | ||||||
| 計算機系統(tǒng) | l In Core i3-3240 3.40GHz，內(nèi)存2G，硬盤500G，DVD光驅(qū) l 17吋液晶彩色顯示器 l MicrosoftTM Win7 32bit | ||||||
| 樣品臺規(guī)格 | l 測量樣品高度≤33mm | l 測量樣品高度≤160mm l 樣品倉內(nèi)部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm l 樣品倉抽屜式設(shè)計，4個位置上下可調(diào)，每格高度25.4mm l 自定義樣品臺：可依據(jù)客戶要求提供更高的樣品臺，滿足樣品高度＞160mm的測量 | l 測量樣品高度≤33mm l X-Y軸行程：寬×深178×178mm l 樣品臺尺寸：寬×深610×560mm l 自動送樣，無人自動測量 l 對樣品編程控制，自動多點測試和重復(fù)測試 l 鼠標(biāo)控制樣品臺精確定位樣品 | ||||
| 儀器外形 寬×深×高 | 407×770×305mm | 407×770×400mm | 610×1037×375mm | ||||
| Z軸 | 使用鼠標(biāo)控制，程控移動距離43mm | ||||||
| 準(zhǔn)直器規(guī)格 | l 可選單準(zhǔn)直器、多準(zhǔn)直器 l 多準(zhǔn)直器程控交換 l 可選園形、矩形準(zhǔn)直器 l 園形準(zhǔn)直器：Ø0.1、Ø0.15、Ø0.2、Ø0.3、Ø0.33、Ø0.5mm l 矩形準(zhǔn)直器：0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254、0.102x0.406mm l 單準(zhǔn)直器標(biāo)配：Ø0.3mm l 雙準(zhǔn)直器標(biāo)配：Ø0.1、Ø0.3mm l 四準(zhǔn)直器標(biāo)配：Ø0.15、Ø0.3、0.05x0.05、0.051x0.254mm | ||||||
| 探測器 | 正比例計數(shù)器 | ||||||
| 工作原理 | 對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析 | ||||||
| 安全性 | l 自動鎖定功能，防止未*的操作 l 簡單用戶界面只向日常操作員設(shè)定有限的* l 主管人員可進行系統(tǒng)維護 l 系統(tǒng)自動生成操作員的使用記錄 l Z軸保護傳感器 l 安全防射線光閘 l 樣品室門開閉傳感器 l X射線鎖 l X射線警示燈 l 緊急停止按鈕 l 前面板安全鈕和后面板安全鎖 | ||||||
| 結(jié)果輸出 | l 直接打印 l 一鍵導(dǎo)出到PDF文件、Excel文件（選配）； l 自定義報告模板，報告包可含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計圖表、客戶信息等； l 統(tǒng)計數(shù)據(jù)、圖、表含有平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖等 | ||||||
供應(yīng)牛津儀器加深臺面的X射線熒光鍍層測厚儀X-Strata920測量精度：
| 膜厚范圍 | *層（zui上層） | 第二層 | 第三層 |
| 小于0.5 µm （20 µin） | 1 µin 或更好 | 2 µin 或更好 | 3 µin 或更好 |
| 大于0.5 µm | 5% 或更好 | 10% 或更好 | 15% 或更好 |
| 含量 | *層 | 第二層 |
| 1--99 wt % |
| 3 wt % 或更好 |
