SAS（Serial Attached SCSI）是存儲設(shè)備中廣泛應(yīng)用的高速串行接口，其SAS接口信號完整性檢測旨在確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性和可靠性。

SAS

SAS（Serial Attached SCSI）是一種用于連接硬盤驅(qū)動器和固態(tài)驅(qū)動器的高速接口技術(shù)。結(jié)合了高速度、高可靠性和良好的擴(kuò)展性，廣泛應(yīng)用于需要高性能存儲的企業(yè)環(huán)境。

應(yīng)用場景：企業(yè)級存儲陣列，支持雙端口冗余和全雙工通信，速率可達(dá)24Gbps（SAS-4）。

信號特點(diǎn)：支持多設(shè)備級聯(lián)（Expander拓?fù)洌?，需驗證信號在多節(jié)點(diǎn)下的抗干擾能力。

測試要點(diǎn)

發(fā)送端（TX）測試

眼圖與幅度：驗證信號眼高（SATA要求≥150mV）和眼寬（≥0.4UI），確保符合SATA-IO或SCSI協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)模板。

抖動性能：測量總抖動（TJ）和隨機(jī)抖動（RJ），SAS-3要求TJ≤0.3UI（1UI=67ps）。

接收端（RX）測試

容限測試：通過誤碼儀（BERT）注入衰減和畸變信號，驗證接收端在惡劣信道下的糾錯能力（BER≤1e-12）。

均衡能力：測試接收端自適應(yīng)均衡（如CTLE/DFE）對信道損耗的補(bǔ)償效果。

信道特性分析

插入損耗：SAS-4要求12GHz頻點(diǎn)損耗≤-16dB，需用網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）測量。

阻抗連續(xù)性：時域反射計（TDR）檢測PCB走線阻抗偏差（目標(biāo)值100Ω±10%）。

SAS接口信號完整性檢測項目

SAS信號完整性測試：

SAS3 TX測試

SAS3 RX測試

測試工具與標(biāo)準(zhǔn)

儀器：

高速示波器（≥20GHz帶寬，用于眼圖、抖動測試）；

誤碼率測試儀（BERT）模擬極限信道條件；

協(xié)議分析儀（驗證SAS鏈路層協(xié)商過程）。

標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范：

SAS：SCSI協(xié)會的《SAS Physical Layer Test Specification》。

 通過測試，可有效提升SAS接口在高速數(shù)據(jù)傳輸中的抗干擾能力與長期穩(wěn)定性，滿足消費(fèi)級與企業(yè)級存儲的嚴(yán)苛需求。具體測試流程可參考行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)文檔或儀器廠商（如Keysight、Teledyne LeCroy）的應(yīng)用指南