服務(wù)背景
1. 檢測(cè)目的
- 2. 核心檢測(cè)項(xiàng)目
電壓與容量:驗(yàn)證標(biāo)稱電壓和容量(如0.2C充放電測(cè)試)。
內(nèi)阻:交流阻抗法測(cè)量,過(guò)高內(nèi)阻可能預(yù)示老化或缺陷。
循環(huán)壽命:如500次循環(huán)后容量保持率≥80%(依據(jù)IEC 62620標(biāo)準(zhǔn))。
自放電率:滿電靜置28天后電壓下降應(yīng)≤5%。
過(guò)充/過(guò)放:過(guò)充至1.5倍額定電壓(如4.2V電池充至6.3V),過(guò)放至0V,觀察是否起火或膨脹。
短路測(cè)試:外部短路(如<5mΩ)模擬,監(jiān)測(cè)溫升和安全性。
熱濫用:高溫測(cè)試(如130°C烘箱中放置1小時(shí))。
機(jī)械測(cè)試:振動(dòng)、擠壓、針刺(UN38.3和GB 31241要求)。
過(guò)充/過(guò)放:過(guò)充至1.5倍額定電壓(如4.2V電池充至6.3V),過(guò)放至0V,觀察是否起火或膨脹。
短路測(cè)試:外部短路(如<5mΩ)模擬,監(jiān)測(cè)溫升和安全性。
熱濫用:高溫測(cè)試(如130°C烘箱中放置1小時(shí))。
機(jī)械測(cè)試:振動(dòng)、擠壓、針刺(UN38.3和GB 31241要求)。
材料成分:XRD分析電極晶體結(jié)構(gòu),ICP-MS檢測(cè)金屬雜質(zhì)。
結(jié)構(gòu)檢查:X射線/CT掃描檢測(cè)電極對(duì)齊度、隔膜完整性。
封裝質(zhì)量:氦質(zhì)譜檢漏儀檢測(cè)軟包電池氣密性。
材料成分:XRD分析電極晶體結(jié)構(gòu),ICP-MS檢測(cè)金屬雜質(zhì)。
結(jié)構(gòu)檢查:X射線/CT掃描檢測(cè)電極對(duì)齊度、隔膜完整性。
封裝質(zhì)量:氦質(zhì)譜檢漏儀檢測(cè)軟包電池氣密性。
電化學(xué)設(shè)備:充放電測(cè)試儀(如Arbin BT系列)、電化學(xué)工作站(Gamry)。
成像技術(shù):顯微CT(如ZEISS Xradia)用于三維結(jié)構(gòu)分析。
熱管理測(cè)試:紅外熱成像儀監(jiān)測(cè)溫度分布。
安全實(shí)驗(yàn)室配置:防爆柜、滅火系統(tǒng)(如沙箱、CO2滅火器)。
電化學(xué)設(shè)備:充放電測(cè)試儀(如Arbin BT系列)、電化學(xué)工作站(Gamry)。
成像技術(shù):顯微CT(如ZEISS Xradia)用于三維結(jié)構(gòu)分析。
熱管理測(cè)試:紅外熱成像儀監(jiān)測(cè)溫度分布。
安全實(shí)驗(yàn)室配置:防爆柜、滅火系統(tǒng)(如沙箱、CO2滅火器)。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):UN38.3(運(yùn)輸安全)、IEC 62133(消費(fèi)類電池)、UL 1642(電芯安全)。
國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn):GB 38031(電動(dòng)汽車電池安全要求)。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):UN38.3(運(yùn)輸安全)、IEC 62133(消費(fèi)類電池)、UL 1642(電芯安全)。
國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn):GB 38031(電動(dòng)汽車電池安全要求)。
電池類型差異:軟包電池需側(cè)重封裝檢測(cè),圓柱電池關(guān)注焊接質(zhì)量。
環(huán)境因素:測(cè)試需在25±2°C、濕度≤60%的恒溫恒濕箱中進(jìn)行。
BMS驗(yàn)證:檢測(cè)BMS的過(guò)壓/欠壓保護(hù)、均衡功能有效性。
電池類型差異:軟包電池需側(cè)重封裝檢測(cè),圓柱電池關(guān)注焊接質(zhì)量。
環(huán)境因素:測(cè)試需在25±2°C、濕度≤60%的恒溫恒濕箱中進(jìn)行。
BMS驗(yàn)證:檢測(cè)BMS的過(guò)壓/欠壓保護(hù)、均衡功能有效性。
數(shù)據(jù)分析:利用統(tǒng)計(jì)軟件(如Minitab)分析批次一致性,標(biāo)準(zhǔn)差應(yīng)<3%。
機(jī)器學(xué)習(xí)應(yīng)用:預(yù)測(cè)壽命(如通過(guò)容量衰減曲線擬合)。
數(shù)據(jù)分析:利用統(tǒng)計(jì)軟件(如Minitab)分析批次一致性,標(biāo)準(zhǔn)差應(yīng)<3%。
機(jī)器學(xué)習(xí)應(yīng)用:預(yù)測(cè)壽命(如通過(guò)容量衰減曲線擬合)。
初篩:外觀檢查、電壓/內(nèi)阻測(cè)量。
非破壞性測(cè)試:X射線掃描、自放電率。
性能測(cè)試:容量、循環(huán)壽命。
破壞性測(cè)試:安全測(cè)試(短路、針刺)置于最后。
初篩:外觀檢查、電壓/內(nèi)阻測(cè)量。
非破壞性測(cè)試:X射線掃描、自放電率。
性能測(cè)試:容量、循環(huán)壽命。
破壞性測(cè)試:安全測(cè)試(短路、針刺)置于最后。