空氣質(zhì)量檢測儀
光譜/色譜/分光光度計
光纖光譜儀Prime X
Prime™ X是B&W Tek推出的高性能TE致冷背照式CCD光譜儀。Prime™ X采用了薄型背照式CCD，量子效率（QE）超過絕大多數(shù)前照式線性CCD的30%多。它還采用了TE半導體致冷至-10℃，能夠顯著降低暗噪聲，增大動態(tài)范圍。由于具備更寬的動態(tài)范圍、更高的信噪比、更低的噪聲水平以及更長時間工作的穩(wěn)定性，Prime™ X已經(jīng)成為的紫外到近紅外光譜應(yīng)用的理想選擇。
Prime™ X采用了512 × 58 像元CCD 陣列檢測器（標準）, 也可選配1024 像元檢測器。它還采用了光纖耦合輸入，內(nèi)建16位數(shù)字轉(zhuǎn)換，包含外觸發(fā)端口和高速USB2.0數(shù)據(jù)接口。
Prime™ X可提供客戶定制服務(wù)，滿足更多光譜分析應(yīng)用需求和OEM客戶的特殊要求。
特點：
• 峰值處量子效率>90%
• 200nm處量子效率超過60%
• 紫外，可見，近紅外增強響應(yīng)
• 512或1024像元背照式檢測器
• -10℃TE致冷
• 快門可選
應(yīng)用：
• 紫外，近紅外微光光譜檢測
• 拉曼和熒光光譜
• 遙感測量
• DNA 排序
• 半導體檢測
• LED 分揀與檢測
• LCD 顯示設(shè)備檢測
技術(shù)參數(shù)：
| 檢測器類型 | 背照式CCD陣列檢測器 |
| 像元數(shù) | 512 元@ 24µ m × 1392µ m （24×58） 1024 元@ 24µ m × 1392µ m （24×58） |
| 光譜儀F# | 3.5 |
| 光譜儀光路 | Crossed Czerny-Turne |
| 動態(tài)范圍 | 75,000:1 |
| 數(shù)字分辨率 | 16-bit 或 65,535:1 |
| 讀出速度 | 250 kHz |
| 數(shù)據(jù)傳輸速度 | 高于50譜/秒（USB 2.0） |
| 積分時間 | 27 - 65,535ms（512） 50 - 65,535ms（1024） |
| 外觸發(fā) | Aux Port |
| 操作溫度 | 0-35℃ |
| TE致冷 | -10℃ |
| 重量 | 光譜儀: 1.4 kg 電源模塊: 0.9 kg |
| 尺寸 | 光譜儀: 107 mm ×178 mm ×89mm 電源模塊: 249mm × 169mm × 57mm |
| 計算機接口 | USB 2.0 / 1.1 |
| 操作系統(tǒng) | Windows XP, Vista （32-bit）, Win 7 |
