EDS X射線探測器

EDS X 射線探測器提供適合于各種采樣需求的 X 射線檢測器方案。
EDS X 射線探測器完善的高分辨率和高生產力解決方案，適合于從常規(guī)分析到高級研究的各種應用。
 

在 X 射線微區(qū)分析系統(tǒng)中，沒有任何組件比得上 X 射線檢測器對系統(tǒng)性能和準確度的影響。 三十五年多以來， Fisher Scientific 一直是電子顯微鏡高分辨率 X 射線檢測解決方案開發(fā)和制造領域的。


Available Detectors

• 可為當前業(yè)內的所有電子柱儀器提供探測器，其機械接口可定制，以確保真空完整性和*收集效率
• 探測器具有各種設計，可與 SEM、LVSEM、FESEM、TEM、STEM、探針、DR、 雙柱 FIB 或鉆孔機準確對接

 UltraDry Silicon Drift Detector   

• UltraDry  30--30mm 有源區(qū)域，生產力高，樣品損壞率低
• UltraDry  10 --10mm 有源區(qū)域，極限峰分辨率
• 分辨率選項從 128eV 到 143eV
• 在選定模型上輕元素檢測可下溯到鈹
• 具有在電子顯微鏡下的性能保障
• 以電子方式冷卻，無風扇或外部冷卻源。 無液氮工作條件消除了與傳統(tǒng)液氮冷卻檢測器相關的危險、繁瑣與成本開銷。
• 與大多數(shù) SEM、FESEM 和微量探針兼容&bulletc1_end

NanoTrace LN-Cooled Si（Li） Detector

• 優(yōu)秀的低能性能
• 符合 ISO 15632 標準要求
• 具有在電子顯微鏡下的性能保障
• 錳分辨率低至 129eV
• 氟分辨率低至 65eV
• 碳分辨率低至 62eV
• 提供從 1.5 到 10 升的杜瓦瓶容量
• 晶體面積從 10mm 到 50mm
• 在選定模型上輕元素檢測可下溯到鈹