梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的稱量性能，*基礎(chǔ)稱量應(yīng)用：在800 mg的精細(xì)量程范圍內(nèi)提供1 μg的可讀性。具有同類產(chǎn)品中*的重復(fù)性可低至0.8 μg，是獲得理想的稱量可靠性的關(guān)鍵，避免不必要的重復(fù)測(cè)試，顯著地降低了樣品和時(shí)間的浪費(fèi)。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設(shè)計(jì)。

標(biāo)準(zhǔn)配置

XS3DU電子微量分析天平
內(nèi)置稱量應(yīng)用程序

TouchScreen觸摸屏，方便天平稱量和參數(shù)設(shè)置

SmartTrac彩色動(dòng)態(tài)圖形顯示器：圖形稱量輔助，跟蹤稱量范圍和公差

可設(shè)置多達(dá)10個(gè)特定功能的快捷鍵

可定義3個(gè)的信息，用于用戶和樣品標(biāo)識(shí)

內(nèi)置RS232C和兩個(gè)輔助接口；用于連接鍵盤或ErgoSens外接紅外感應(yīng)器選件，實(shí)現(xiàn)無需用手接觸的稱量操作

第二接口選件插槽；例如LocalCAN，以太網(wǎng)，RS232，MiniMettler，藍(lán)牙或PS/2等接口選件

手動(dòng)開關(guān)門的玻璃防風(fēng)罩

可更換的顯示屏保護(hù)蓋

下掛鉤稱量

具有過載保護(hù)的稱量傳感器

XS3DU電子微量分析天平

顯示多種質(zhì)量單位

差重稱量應(yīng)用程序

計(jì)件和百分比稱量應(yīng)用程序

統(tǒng)計(jì)應(yīng)用程序

技術(shù)指標(biāo)

極限值
XS3DU電子微量分析天平

XS3DU 雙量程

zui大稱量值


3.1 g

可讀性


0.01 mg

zui大稱量值


0.8 g

可讀性


0.001 mg

重復(fù)性（sd） - 加載處


0.006 mg

- 低加載（加載處）


0.005 mg （0.2 g）

重復(fù)性（sd） - 加載處


0.001 mg

- 低加載（加載處）


0.0008 mg （0.2 g）

線性誤差


0.004 mg

四角誤差（加載處）1）


0.005 mg （2 g）

典型值 4）




典型重復(fù)性（sd）


0.0005 mg +1.2 x （10–7）•R_gr

典型微分非線性（sd）


√2x（10-12）g·R_nt

典型微分四角誤差（sd）


1.2 x （10–6）•R_nt

典型靈敏度偏移（sd）2）


3 x （10–6）•R_nt

典型zui小稱量值* （@ U=1 %, 2 sd）


0.1 mg+2.4 x （10–6）•R_gr

典型穩(wěn)定時(shí)間


< 6 sec

穩(wěn)定時(shí)間


< 10 sec
XS3DU電子微量分析天平
1） 根據(jù)OIML R76
2） 在10到30°C的溫度范圍內(nèi)
3） *次安裝，使用proFACT校準(zhǔn)，靈敏度穩(wěn)定性
4） 能用于估計(jì)不確定度 sd=標(biāo)準(zhǔn)偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質(zhì)量） a=年
* 重復(fù)性和zui小稱量值可以通過以下措施得以改進(jìn)：- 選擇適當(dāng)?shù)姆Q量參數(shù)設(shè)置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。