雙光束紫外可見分光光度計UV762功能特點：
關(guān)鍵元件采用進(jìn)口元件，全新*的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學(xué)性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
真正的雙光束測光系統(tǒng)，配合*的電路測控系統(tǒng)，使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。
*的氘燈和鎢燈安裝，光源自動切換及自動尋找*位置的設(shè)計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全．
采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面．
優(yōu)良的軟件設(shè)計和編制，使儀器有較強光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動掃描測量光譜, 多波長( 1-3λ) 測定、動力學(xué)測定、１－３次曲線擬合、１－４階導(dǎo)數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
基于Windows 平臺開發(fā)的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節(jié)省費用。
雙光束紫外可見分光光度計UV762性能指標(biāo)：
波長范圍：190nm～1100nm
光譜帶寬：2nm
波長準(zhǔn)確度：≤±0.3nm(開機自動校正)
波長重復(fù)性：≤0.2nm
透射比準(zhǔn)確度：±0.3%(T)
透射比重復(fù)性：0.2%(T)
透射比測量范圍：0～200%T
吸光度測量范圍：-0.301～3.000A
雜光：≤0.15%(在220nm處，以NAI測定)
漂移：≤0.002A/H （500nm處）
噪聲：*線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T
掃描速度：快 中 慢
