低頻絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀報(bào)價(jià)低頻絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀報(bào)價(jià)頻率范圍20HZ-1MHZ,含測(cè)試夾具一個(gè) 型號(hào):M370105庫號(hào)：M370105
一 概述M370105是具有多|種功能和＞測(cè)試頻率的阻抗分析儀.本系列儀器基本精度為0.05%, 測(cè)試頻率1MHz及10mHz的分辨率, 4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面.集成了變壓器測(cè)試功能,平衡測(cè)試功能. 儀器提供了接口,能滿足自|動(dòng)分選測(cè)試, 數(shù)據(jù)傳輸和保|存的各種要求.
二 性能特點(diǎn)
◎ 全自|動(dòng)一鍵操作可自動(dòng)掃描平穩(wěn)的量程階段
◎ 微電腦處理器反應(yīng)迅速可在短時(shí)間內(nèi)計(jì)算出頻段
◎ 夾具數(shù)字顯示
◎ 4.3寸TFT液晶顯示
◎ 中英文可選操作界面
◎ 測(cè)試頻率≤1MHz， 10mHz分辨率
◎ 平衡測(cè)試功能
◎ 變壓器參數(shù)測(cè)試功能
◎ 測(cè)試速度:≤13ms/次
◎ 電壓或電流的自|動(dòng)電平調(diào)整（ALC） 功能
◎ V、 I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)|視功能
◎ 內(nèi)部自|帶直流偏置源
◎ 可外接大電流直流偏置源
◎ 10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能
◎ 30Ω 、 50Ω 、 100Ω 可選內(nèi)阻◎ 內(nèi)建比較器， 10檔分選和計(jì)|數(shù)功能
◎ 內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤文件保|存
◎ 測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保|存到U盤
◎ RS232C、 USB 、 LAN、 HANDLER、 GPIB、 DCI 接口
◎ 高頻阻抗分析儀電容值 Cp 分辨率 0.00001pF 和 6 位 D 值顯示， 保|證了ε 和 D值精度和重復(fù)性
◎ 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá) 1～105
三 主要技術(shù)指標(biāo)：
1 M370105主機(jī)參數(shù)
ε 和D性能：
固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz～1MHz的ε 和D變化的測(cè)試。
ε 和D測(cè)量范圍： ε ： 1～105， D： 0.1～0.00005，
ε 和D測(cè)量精度（10kHz） ： ε ： ±2% ， D： ±5%±0.0001。
測(cè)試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ ,DCR
測(cè)試頻率 :20Hz～1MHz,10mHz步進(jìn)
測(cè)試信號(hào)電平:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV），f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗:10Ω , 30Ω , 50Ω , 100Ω
基本準(zhǔn)確度 ;0.1%
顯圍 :
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C :0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S
D :0.0001 ～ 9.9999
Q :0.0001 ～ 99999
θ :-179.99° ～ 179.99°
測(cè)量速度 ;快速: 200次/s（f﹥ 30kHz） ,100次/s（f﹥ 1kHz）
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準(zhǔn)功能 :開路 / 短路點(diǎn)頻、 掃頻清零， 負(fù)載校準(zhǔn)
等|效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
量程方式:自|動(dòng), 保持
顯示方式 :直讀, Δ , Δ %
觸發(fā)方式 :內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線
內(nèi)部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)
置源 :電流模式（內(nèi)阻為50Ω ） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)
比較器功能:10檔分選及計(jì)|數(shù)功能
顯示器;4.3寸LCD顯示
存儲(chǔ)器 :可保存20組儀器設(shè)定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）
工作頻率范圍： 20Hz～1MHz 數(shù)字合成，
精度： ±0.02%
電容測(cè)量范圍： 0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯
電容測(cè)量基本誤差是： ±0.05%
損耗因素D值范圍： 0.00001～9.99999 六位數(shù)顯
介電常數(shù)測(cè)試裝置（含保|護(hù)電極） ： 介電常數(shù)測(cè)試裝置提供測(cè)試電極， 能
對(duì)直徑φ 6～50mm， 厚度<14mm的試樣測(cè)量。
它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法， 薄膜電極法和非接觸法三種， 以適應(yīng)軟材
料， 表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。
微分頭分辨率： 10μ m
耐壓： ±42Vp（AC+DC）
電纜長度設(shè)置： 1m
使用頻率：≤ 1MHz
2 S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：
固體：材料測(cè)量直徑Φ38mm；厚度可調(diào) ≥ 15mm
液體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）
四 M370105/ZX283806低頻介電常數(shù)及介質(zhì)蒜損耗測(cè)試系統(tǒng)主要測(cè)試材料
絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
高頻介質(zhì)樣品（選購件）： 在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中， 檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量儀提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。 該樣品由石英玻璃， 聚四氟乙烯等材料做成Φ 38mm， 厚 1～2mm 測(cè)試樣品。 用戶可按需訂購， 以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性
