M1 MISTRAL的應(yīng)用領(lǐng)域很廣，我們選擇常見(jiàn)的例子進(jìn)行介紹

測(cè)量鍍層樣品：

采用X射線熒光技術(shù)的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)法，可以同時(shí)基數(shù)按鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品可以進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性

測(cè)定鍍層樣品厚度及成分例如

Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu

珠寶及合金分析：

M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品、不到1分鐘就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分含量或K（開(kāi)）表示

M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號(hào)（鈦）以上的所有元素。分析的樣品類型：各類不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品

樣品尺寸zui大可達(dá)100×100×100mm，無(wú)需任何處理，直接放在樣品臺(tái)上檢測(cè)。

光管位于樣品上方，測(cè)量過(guò)程中部接觸樣品，因此可以很容易地分析復(fù)雜式樣的樣品，如精工細(xì)作的珠寶和不容厚度的樣品。

M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺(tái)式 μ-XRF 光譜儀，用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、成本效益， 可以提供與材料元素成分有關(guān)的準(zhǔn)確信息。

該儀器具備高空間分辨率，光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形狀的樣品，例如zui復(fù)雜的珠寶，而無(wú)需進(jìn)一步的制備，更重要的是，它的分析是無(wú)損的。支持的樣品尺寸zui大可達(dá) 100x100x100 立方毫米。帶有交叉十字線的視頻顯微鏡，可以精確定位到您要測(cè)量的位置。電動(dòng) Z 型取樣臺(tái)允許快速聚焦?？蛇x的 X-Y-Z 取樣臺(tái)甚至可以提供更大的舒適性。

M1 MISTRAL 配備了高亮度微焦點(diǎn) X 射線管，確保出色的激發(fā)測(cè)量光斑，產(chǎn)生高熒光效應(yīng)。憑借功能強(qiáng)大、易于使用的 XSpect 軟件套件，該儀器可交付準(zhǔn)確的量化結(jié)果，而不論是分析塊狀材料還是zui復(fù)雜的多層結(jié)構(gòu)。

·         適用于各種樣品類型和應(yīng)用領(lǐng)域

·         用于快速現(xiàn)場(chǎng)分析的便捷式系統(tǒng)

·         沒(méi)有基體或記憶效應(yīng)

運(yùn)行費(fèi)用低，無(wú)需任何介質(zhì)、處理或定期維護(hù)