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上海林頻儀器股份有限公司

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電子電工國標目錄

閱讀：1518發(fā)布時間：2008-2-22

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環(huán)境試驗設(shè)備
GB 10586-89	濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB 10587-89	鹽霧試驗箱技術(shù)條件
GB 10588-89	長霉試驗箱技術(shù)條件
GB 10589-89	低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10590-89	低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)務(wù)件
GB 10591-89	高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89	高、低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89	高溫試驗箱技術(shù)條件
GB 11159-89	低氣壓試驗箱技術(shù)條件
環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
GB/T 5170.1-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
GB/T 5170.2-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
GB/T 5170.5-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
GB/T 5170.8-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
GB/T 5170.9-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輔射試驗設(shè)備
GB/T 5170.10-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T 5170.11-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試設(shè)備
GB 5170.13-85	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗用機械振動臺
GB 5170.14-85	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗用電動振動臺
GB 5170.15-85	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗用液壓振動臺
GB 5170.16-85	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法恒加速度試驗用離心式試驗機
GB 5170.17-87	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備
GB 5170.18-87	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
GB 5170.19-89	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動正弦綜合試驗設(shè)備
GB 5170.20-90	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備

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