美國(guó)LEE L170/L180/L200/L360/L500涂鍍層測(cè)厚儀使用操作手冊(cè)簡(jiǎn)要故障排除
1開(kāi)機(jī): 按一次開(kāi)機(jī)，顯示：READY! （儀器準(zhǔn)備好） 可以測(cè)量了。（自動(dòng)關(guān)機(jī)，長(zhǎng)期不用請(qǐng)取出電池，防止內(nèi)部耗電，電池漏液）
2測(cè)量：在校準(zhǔn)板上（或鐵基工件上），力度適中、快捷、干脆的把測(cè)量頭按在被測(cè)面上。保持正確測(cè)量手法：測(cè)量的時(shí)候要讓測(cè)頭平面緊密地與被測(cè)工件面*垂直接觸。如果有縫隙，就會(huì)有測(cè)量誤差出現(xiàn)，少則1微米到幾微米，多則十幾微米甚至上百微米，這就是所謂的誤操作！
測(cè)量屏幕顯示：Fe R
- X um
Fe 表示 鐵基體（磁性基體）
R 表示 讀值的意思， read的簡(jiǎn)寫(xiě)，R 出現(xiàn)后才能進(jìn)行下一次的測(cè)量。
- 表示負(fù)值，如果不顯示，表示正值 。
X 代表可能出現(xiàn)的數(shù)值，如果在木頭或有色金屬，或沒(méi)有磁性的不銹鋼，或用手觸動(dòng)測(cè)頭，或在沒(méi)有磁性的工件上測(cè)量時(shí)會(huì)出現(xiàn)：INF的非鐵基提示，這種情況也可能出現(xiàn)在鐵基體工件測(cè)量時(shí)的誤操作和校準(zhǔn)失誤程序錯(cuò)亂情況下出現(xiàn)?。▍⒖既c(diǎn)校準(zhǔn)，或恢復(fù)出廠設(shè)置排除INF故障） 。
um 微米的意思。
注意：實(shí)際測(cè)量工件時(shí)，多測(cè)量幾次，去掉zui大zui小值，求平均值！才是工件的真實(shí)值！
3零點(diǎn)校準(zhǔn)（底材校準(zhǔn)）：連續(xù)快速的按2次按鍵，屏幕出現(xiàn)： - 后，又出現(xiàn)如下英文：
BASE （基本、底材）
ZERO （零、校準(zhǔn)） 翻譯為：基本校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、底材校準(zhǔn)都可以！
這時(shí)可以直接在隨機(jī)的鐵基上操作手法正確的測(cè)量1次，（或在被測(cè)工件的裸鐵基體上測(cè)量1次），屏幕出現(xiàn)： X um，（X 代表可能出現(xiàn)的數(shù)值） 后屏幕出現(xiàn)： DONE （完成、校準(zhǔn)完畢的意思），再次測(cè)量鐵基體1次應(yīng)該出現(xiàn) 0 um（出現(xiàn)-1um， 1um也可以接受） 。如果手法不正確，可能幾微米的誤差（建議：為了檢驗(yàn)零點(diǎn)校準(zhǔn)的成果，你可以連續(xù)在鐵基上測(cè)量10次，如果8次以上出現(xiàn)0um，2次出現(xiàn)誤操作值，說(shuō)明零點(diǎn)校準(zhǔn)成功，順便也對(duì)自己的測(cè)量方法也是個(gè)鍛煉，排除盡可能少的誤操作。）
4三點(diǎn)校準(zhǔn)（實(shí)際要測(cè)量四點(diǎn)）：
首先：連續(xù)快速的按3次按鍵，屏幕出現(xiàn)： - 后，又出現(xiàn)如下英文：
USER CAL （ 用戶 清除）
BASE （基本，底材） 翻譯為：三點(diǎn)校準(zhǔn)（實(shí)際要校準(zhǔn)4點(diǎn)）！
（1）先在鐵基上測(cè)量第1點(diǎn)。屏幕出現(xiàn)：X um （X 為任意誤差值，INF故障時(shí)也可能為INF，如果2點(diǎn)校準(zhǔn)成功，手法正確應(yīng)該出現(xiàn)0 um ，不管出現(xiàn)什么值，都不用管。）
（2）屏幕出現(xiàn)S1,把代表S1的標(biāo)準(zhǔn)片放在鐵基體上測(cè)量第2點(diǎn)，測(cè)量后屏幕顯示： X um （ X 為任意誤差值，INF故障時(shí)也可能為INF，如果2點(diǎn)校準(zhǔn)成功，手法正確應(yīng)該出現(xiàn) S1代表的標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)稱值，偏差1-3%，不管出現(xiàn)什么值，都不用管。）
（3）屏幕出現(xiàn)S2,把代表S2的標(biāo)準(zhǔn)片放在鐵基體上測(cè)量第3點(diǎn)，測(cè)量后屏幕顯示： X um （X 為任意誤差值，INF故障時(shí)也可能為INF，如果2點(diǎn)校準(zhǔn)成功，手法正確應(yīng)該出現(xiàn) S2代表的標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)稱值，偏差1-3%，不管出現(xiàn)什么值，都不用管。）
（4）屏幕出現(xiàn)S3,把代表S3的標(biāo)準(zhǔn)片放在鐵基體上測(cè)量第4點(diǎn)，測(cè)量后屏幕顯示： X um （X 為任意誤差值，INF故障時(shí)也可能為INF，如果阿2點(diǎn)校準(zhǔn)成功，手法正確應(yīng)該出現(xiàn) S3代表的標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)稱值，偏差1-3%，不管出現(xiàn)什么值，都不用管。）
zui后：屏幕出現(xiàn)：DONE 校準(zhǔn)完成。（INF故障時(shí)可以消除）可以把標(biāo)準(zhǔn)片放在鐵基體上，檢驗(yàn)校準(zhǔn)結(jié)果，如果不理想可以重新校準(zhǔn)一次！
5公英制轉(zhuǎn)換：連續(xù)快速的按4次按鍵，可以在um公制和mil 英制值之間切換！
6恢復(fù)出廠設(shè)置：連續(xù)快速的按5次按鍵，可以恢復(fù)出廠設(shè)置，解決大部分儀器故障！恢復(fù)儀器出廠線形誤差設(shè)置！
該說(shuō)明書(shū)僅適用美國(guó)LEE L170/L180/L200/L360/L500/L200涂鍍層測(cè)厚儀老版本機(jī)型。
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