超聲波探傷儀
　　超聲波探傷儀，簡稱：探傷儀，超聲探傷儀。為五大常規(guī)無損檢測技術(shù)（超聲波檢測、磁粉檢測、渦流檢測、滲透檢測和射線照相檢測）之一。在無損檢測行業(yè)中的地位十分重要！

    按照市場上超聲波探傷儀的硬件分類：有數(shù)字和模擬機(jī)之分。模擬機(jī)體積龐大，沒有數(shù)據(jù)存儲功能，基本屬于淘汰邊沿！數(shù)字機(jī)因?yàn)槌”銛y，數(shù)據(jù)存儲能和電腦連接，生成探傷報告故zui為流行！

    按屏幕顯示分類：單色和彩色，彩色可調(diào)等

    時代山峰推出的數(shù)字超聲波探傷儀UTD500，具備數(shù)字、彩屏（單色高亮度/多種彩色背景可選）、多通道，大容量數(shù)據(jù)存儲、錄像等68種功能細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)！其中多項(xiàng)技術(shù)在國內(nèi)外指標(biāo)中處于地位，是超聲波探傷儀中的精品！屬于數(shù)字產(chǎn)品，價位與模擬機(jī)價格相當(dāng)?。?00-024-00008咨詢。

見部分詳細(xì)參數(shù)：

UTD500數(shù)字超聲波探傷儀適用于制造、鋼鐵冶金業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等需要缺陷檢測和質(zhì)量控制的領(lǐng)域，也廣泛應(yīng)用于航空航天、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領(lǐng)域的在役安全檢查與壽命評估。

功能特點(diǎn)

全中文顯示，主從式菜單，并設(shè)計(jì)有快捷按鍵和數(shù)碼飛梭旋輪，操作便捷，

技術(shù)。

全數(shù)字真彩色液晶顯示器，可根據(jù)環(huán)境選擇背景色和波形顏色，液晶亮度可

自由設(shè)定。

高性能安保電池模塊便于拆裝，可以脫機(jī)獨(dú)立充電，大容量高性能鋰離子電

池模塊使儀器連續(xù)工作時間延長到八小時以上；儀器輕小便攜，單手即可以把持，

經(jīng)久耐用，引導(dǎo)行業(yè)潮流。

檢測范圍： （0~9999）mm

工作頻率： （0.5~15）MHz

聲速范圍： （1000~9999）m/s

動態(tài)范圍： ≥32dB

垂直線性誤差：≤3%

水平線性誤差：≤0.2%

分 辨 力： >40dB（5P14）

靈敏度余量： 60dB（深200mmФ2 平底孔）

數(shù)字抑制： （0~80）%，不影響線性與增益

電噪聲電平： ≤10%

探頭類型： 單探頭、雙晶探頭、穿透探頭

閘 門： 進(jìn)波門、失波門；單閘門讀數(shù)、雙閘門讀數(shù)

報 警： 蜂鳴報警，LED 燈報警

電 源： 直流（DC）9V；鋰電池連續(xù)工作6~8 小時以上

外型尺寸： 263×170×61（mm）

環(huán)境溫度： （-10~50）℃

相對濕度： （20~95）%RH

注：以上指標(biāo)是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所測得的。

硬件實(shí)時采樣：10 位AD 轉(zhuǎn)換器，采樣速度160MHz，波形高度保真

檢波方式：正半波、負(fù)半波、全波、射頻檢波

濾波頻帶（0.5~15）MHz，根據(jù)探頭頻率全自動匹配，無需手動設(shè)置。

閘門讀數(shù)：單閘門和雙閘門讀數(shù)方式可選；閘門內(nèi)峰值讀數(shù)

增益：總增益量110dB，設(shè)0、0.1dB、2dB、6dB 步進(jìn)值，*的全自動增

益調(diào)節(jié)及掃查增益功能，使探傷既快捷又準(zhǔn)確。

波峰記憶：實(shí)時檢索缺陷zui高波，記錄缺陷zui大值

Φ值計(jì)算：直探頭鍛件探傷找準(zhǔn)缺陷zui高波后自動計(jì)算、顯示缺陷當(dāng)量尺寸

缺陷定位：實(shí)時顯示缺陷水平、深度（垂直）、聲程位置

缺陷定量：缺陷當(dāng)量dB 值實(shí)時顯示

缺陷定性：通過回波包絡(luò)波形，方便人工經(jīng)驗(yàn)判斷

曲面修正：用于曲面工件探傷，可實(shí)時顯示缺陷周向位置

DAC/AVG：曲線自動生成，取樣點(diǎn)不受限制，并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。曲線隨增益自動浮動、隨聲程自動擴(kuò)展、隨延時自動移動。能顯示任意孔徑的AVG 曲線。

裂紋測高：利用端點(diǎn)衍射波自動測量、計(jì)算裂紋高度。

門內(nèi)展寬：放大回波細(xì)節(jié)，便于回波分析

動態(tài)記錄：檢測實(shí)時動態(tài)記錄波形，存儲、回放（檢測動態(tài)錄像功能）

波形凍結(jié)：凍結(jié)屏幕上顯示的波形，便于缺陷分析

B 型掃描：實(shí)時掃查、橫截面顯示，可顯示工件缺陷形狀，使探測結(jié)果更直觀。