《所發(fā)布的各款試驗設備價錢僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際價錢以歐可儀器業(yè)務員根據客戶的要求所做的報價單為準》李先生/131*1281*1231

　　高低溫正弦振動綜合試驗箱技術參數：

　　型號：OK-ZTH-80 工作室尺寸：40×50×40 箱體尺寸：120×165×115

　　型號：OK-ZTH-150 工作室尺寸：50×60×50 箱體尺寸：130×170×125

　　型號：OK-ZTH-225 工作室尺寸：60×75×50 箱體尺寸：140×185×130

　　型號：OK-ZTH-408 工作室尺寸：60×85×80 箱體尺寸：165×195×155

　　型號：OK-ZTH-800 工作室尺寸：100×100×80 箱體尺寸：185×200×175

　　型號：OK-ZTH-1000 工作室尺寸：100×100×100 箱體尺寸：190×210×185

　　高低溫正弦振動綜合試驗箱推薦標準

　　GB/T5170.2-1996電工電子產品環(huán)境試驗設備參數檢定方法(溫度試驗設備)

　　GB/T2423.1-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗A低溫試驗方法)

　　GB/T2423.2-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗B高溫試驗方法)

　　GB/T2423.3-93電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程(濕熱試驗方法)

　　GJB150.3-86Jun用設備環(huán)境試驗方法(高溫試驗)

　　GB/T 2423.34-2012/IEC 60068-2-38：2009 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗

　　GJB899-1990 可靠性鑒定和驗收試驗

　　GJB899A-2009 可靠性鑒定和驗收試驗

　　GJB367A-2001 Jun用通信設備通用規(guī)范

　　GJB1407-1992 可靠性增長試驗

　　GB/T 2423.35-2005 / IDT IEC 60068-2-50:1983 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗

　　GB/T 2423.36-2005 / IDT IEC 60068-2-51:1983 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗

　　GMW3172-2012 電氣-電子元件通用規(guī)范-環(huán)境/耐久性 9.3.1熱循環(huán)振動