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定向跌落試驗(yàn)臺(tái)
定向跌落試驗(yàn)臺(tái)旨在評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用時(shí)客戶可能意外將產(chǎn)品跌落后對(duì)產(chǎn)品性能的影響,適用于:行動(dòng)、PDA、機(jī)、電子辭典、CD、MP3、適配器,電池等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)...
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/30 11:56:09
對(duì)比
定向跌落試驗(yàn)機(jī)定向跌落測(cè)試臺(tái)定向跌落試驗(yàn)設(shè)備定向跌落試驗(yàn)儀器手機(jī)定向跌落試驗(yàn)臺(tái)
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鍵盤按鍵壽命測(cè)試儀
鍵盤按鍵壽命測(cè)試儀可對(duì)手機(jī)按鍵、搖控器按鍵、硅/橡膠按鍵等做壽命測(cè)試,適用于檢測(cè)按鍵開(kāi)關(guān)、輕觸開(kāi)關(guān)、薄膜開(kāi)關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/30 11:56:03
對(duì)比
按鍵壽命測(cè)試儀按鍵壽命測(cè)試機(jī)按鍵壽命試驗(yàn)儀開(kāi)關(guān)按鍵壽命測(cè)試儀遙控器按鍵壽命測(cè)試儀
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手機(jī)跌落試驗(yàn)設(shè)備
豪恩系列手機(jī)跌落試驗(yàn)設(shè)備用于電池、包裝箱、MP3等電子制品及零部件之自由跌落測(cè)試。符合UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/30 11:55:59
對(duì)比
手機(jī)跌落試驗(yàn)機(jī)手機(jī)跌落測(cè)試設(shè)備手機(jī)跌落試驗(yàn)儀器自由跌落試驗(yàn)設(shè)備自由跌落測(cè)試設(shè)備
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臥式插拔壽命測(cè)試儀
微電腦臥式插拔壽命測(cè)試儀適用于多種連接器插拔試驗(yàn)之用,可顯示插拔力連續(xù)變化值和峰值,并具有次數(shù)設(shè)定,具有插拔的力值顯示和打印功能。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/30 11:55:56
對(duì)比
插拔壽命測(cè)試儀插拔壽命測(cè)試機(jī)插拔壽命測(cè)試設(shè)備插拔力壽命測(cè)試儀耳機(jī)插拔壽命測(cè)試儀
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鍵盤按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)
鍵盤按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)手機(jī)按鍵、搖控器按鍵、硅/橡膠按鍵等做壽命測(cè)試,適用于檢測(cè)按鍵開(kāi)關(guān)、輕觸開(kāi)關(guān)、薄膜開(kāi)關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/26 13:56:28
對(duì)比
按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)按鍵壽命測(cè)試機(jī)鍵盤按鍵壽命測(cè)試機(jī)鍵盤按鍵壽命試驗(yàn)儀按鍵壽命試驗(yàn)設(shè)備
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軟壓壽命測(cè)試儀
軟壓壽命測(cè)試儀是對(duì)平板電腦進(jìn)行抗壓疲勞試驗(yàn)的設(shè)備。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理、*,對(duì)不同型號(hào)手記有充分的適用性。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/26 13:56:11
對(duì)比
軟壓壽命測(cè)試機(jī)軟壓壽命測(cè)試設(shè)備軟壓壽命試驗(yàn)儀手機(jī)軟壓壽命測(cè)試儀平板電腦軟壓壽命測(cè)試儀
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電阻屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)
電阻屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)是平板電腦、手機(jī)、對(duì)話機(jī)、對(duì)講、電子詞典等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)品的檢測(cè)設(shè)備。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/26 13:56:05
對(duì)比
點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)點(diǎn)擊劃線測(cè)試機(jī)手機(jī)點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)電容屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)平板電腦點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)
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定向跌落測(cè)試儀
定向跌落測(cè)試儀旨在評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用時(shí)客戶可能意外將產(chǎn)品跌落后對(duì)產(chǎn)品性能的影響,適用于:行動(dòng)、PDA、機(jī)、電子辭典、CD、MP3、適配器,電池等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)...
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/26 6:49:09
對(duì)比
定向跌落測(cè)試機(jī)定向跌落測(cè)試臺(tái)手機(jī)定向跌落測(cè)試儀受控跌落測(cè)試儀手機(jī)定向跌落測(cè)試機(jī)
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自由跌落試驗(yàn)儀器
豪恩系列自由跌落試驗(yàn)儀器用于電池、包裝箱、MP3等電子制品及零部件之自由跌落測(cè)試。符合UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/26 6:49:05
對(duì)比
自由跌落試驗(yàn)機(jī)自由跌落試驗(yàn)儀自由跌落測(cè)試儀器自由跌落試驗(yàn)設(shè)備手機(jī)自由跌落試驗(yàn)儀器
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插拔壽命測(cè)試機(jī)
豪恩系列插拔壽命測(cè)試機(jī)適用于各類插頭插座、USB等連接器的插拔試驗(yàn)之用。可實(shí)時(shí)顯示連續(xù)值,插入峰值,拔出峰值具有自動(dòng)計(jì)數(shù)功能,行程速度可隨意調(diào)節(jié),并且顯示速度值...
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/26 6:48:58
對(duì)比
插拔壽命測(cè)試儀插拔壽命試驗(yàn)機(jī)插拔壽命測(cè)試設(shè)備全自動(dòng)插拔壽命測(cè)試機(jī)臥式插拔壽命測(cè)試機(jī)
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手機(jī)桌面跌落試驗(yàn)設(shè)備
手機(jī)桌面跌落試驗(yàn)設(shè)備適用于行動(dòng)(手機(jī))、對(duì)講機(jī)、電子詞典、樓寓對(duì)講、CD/MD/MP3等小型消費(fèi)類電子制品及零部件之桌面跌落耐久試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/25 16:32:35
對(duì)比
手機(jī)桌面跌落試驗(yàn)機(jī)手機(jī)桌面跌落試驗(yàn)儀手機(jī)桌面跌落測(cè)試設(shè)備手機(jī)桌面跌落試驗(yàn)儀器手機(jī)微跌落試驗(yàn)設(shè)備
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扭轉(zhuǎn)壽命測(cè)試儀
扭轉(zhuǎn)壽命測(cè)試儀用于檢測(cè)平板電腦扭轉(zhuǎn)試驗(yàn),采用PLC及HMI控制系統(tǒng),可設(shè)扭力值測(cè)試扭轉(zhuǎn)次數(shù)壽命后,看平板電腦功能是否正常,正反轉(zhuǎn)一次計(jì)一次數(shù)。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/25 14:33:43
對(duì)比
扭轉(zhuǎn)壽命測(cè)試機(jī)手機(jī)扭轉(zhuǎn)壽命測(cè)試儀扭轉(zhuǎn)壽命測(cè)試設(shè)備扭轉(zhuǎn)壽命試驗(yàn)儀扭力壽命測(cè)試儀
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手機(jī)軟壓試驗(yàn)儀器
手機(jī)軟壓試驗(yàn)儀器是對(duì)平板電腦進(jìn)行抗壓疲勞試驗(yàn)的設(shè)備。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理、*,對(duì)不同型號(hào)手記有充分的適用性。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/24 19:11:09
對(duì)比
手機(jī)軟壓試驗(yàn)機(jī)手機(jī)軟壓試驗(yàn)儀手機(jī)軟壓測(cè)試儀器手機(jī)軟壓試驗(yàn)設(shè)備軟壓試驗(yàn)儀器
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開(kāi)關(guān)按鍵壽命試驗(yàn)儀器
開(kāi)關(guān)按鍵壽命試驗(yàn)儀器可對(duì)手機(jī)按鍵、搖控器按鍵、硅/橡膠按鍵等做壽命測(cè)試,適用于檢測(cè)按鍵開(kāi)關(guān)、輕觸開(kāi)關(guān)、薄膜開(kāi)關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/24 0:16:30
對(duì)比
按鍵壽命試驗(yàn)儀器按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)按鍵壽命試驗(yàn)設(shè)備按鍵壽命測(cè)試儀器按鍵壽命試驗(yàn)儀
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自由跌落試驗(yàn)儀
豪恩系列自由跌落試驗(yàn)儀用于電池、包裝箱、MP3等電子制品及零部件之自由跌落測(cè)試。符合UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/24 0:16:24
對(duì)比
自由跌落試驗(yàn)機(jī)自由跌落測(cè)試儀自由跌落試驗(yàn)設(shè)備手機(jī)跌落試驗(yàn)儀手機(jī)跌落試驗(yàn)機(jī)
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手機(jī)微跌落試驗(yàn)儀器
手機(jī)微跌落試驗(yàn)儀器適用于行動(dòng)(手機(jī))、對(duì)講機(jī)、電子詞典、樓寓對(duì)講、CD/MD/MP3等小型消費(fèi)類電子制品及零部件之桌面跌落耐久試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/23 17:44:42
對(duì)比
手機(jī)微跌落試驗(yàn)儀手機(jī)微跌落試驗(yàn)機(jī)手機(jī)微跌落試驗(yàn)設(shè)備手機(jī)微跌落測(cè)試儀手機(jī)微跌落測(cè)試儀器
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平板電腦點(diǎn)擊劃線測(cè)試儀器
平板電腦點(diǎn)擊劃線測(cè)試儀器是平板電腦、手機(jī)、對(duì)話機(jī)、對(duì)講、電子詞典等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)品的檢測(cè)設(shè)備。只需更換筆頭便可適用于電阻屏和電容屏。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/23 17:44:37
對(duì)比
點(diǎn)擊劃線測(cè)試儀器點(diǎn)擊劃線測(cè)試機(jī)點(diǎn)擊劃線測(cè)試儀點(diǎn)擊劃線測(cè)試設(shè)備平板電腦點(diǎn)擊劃線測(cè)試儀
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手機(jī)扭力測(cè)試設(shè)備
手機(jī)扭力測(cè)試設(shè)備用于檢測(cè)平板電腦扭轉(zhuǎn)試驗(yàn),采用PLC及HMI控制系統(tǒng),可設(shè)扭力值測(cè)試扭轉(zhuǎn)次數(shù)壽命后,看平板電腦功能是否正常,正反轉(zhuǎn)一次計(jì)一次數(shù)。
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/23 6:48:44
對(duì)比
手機(jī)扭力測(cè)試儀手機(jī)扭力測(cè)試機(jī)手機(jī)扭轉(zhuǎn)測(cè)試設(shè)備手機(jī)扭曲測(cè)試設(shè)備手機(jī)扭力試驗(yàn)設(shè)備
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手機(jī)受控跌落測(cè)試設(shè)備
手機(jī)受控跌落測(cè)試設(shè)備旨在評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用時(shí)客戶可能意外將產(chǎn)品跌落后對(duì)產(chǎn)品性能的影響,適用于:行動(dòng)、PDA、機(jī)、電子辭典、CD、MP3、適配器,電池等小型消費(fèi)類...
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/22 14:36:11
對(duì)比
受控跌落測(cè)試設(shè)備受控跌落測(cè)試機(jī)受控跌落測(cè)試儀受控跌落試驗(yàn)設(shè)備受控跌落測(cè)試儀器
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受控跌落測(cè)試儀器
受控跌落測(cè)試儀器旨在評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用時(shí)客戶可能意外將產(chǎn)品跌落后對(duì)產(chǎn)品性能的影響,適用于:行動(dòng)、PDA、機(jī)、電子辭典、CD、MP3、適配器,電池等小型消費(fèi)類電子...
型號(hào):
所在地:東莞市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2018/4/21 16:48:54
對(duì)比
受控跌落測(cè)試儀受控跌落測(cè)試機(jī)受控跌落測(cè)試設(shè)備受控跌落試驗(yàn)儀器手機(jī)受控跌落測(cè)試儀器