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谷物外觀品質(zhì)分析儀報(bào)價(jià)谷物外觀品質(zhì)分析儀報(bào)價(jià) 型號(hào):KVS-GW1庫號(hào)：M178016   谷物外觀品*質(zhì)分析儀型號(hào)：KVS-GW1

技術(shù)參數(shù)*1檢測(cè)對(duì)象：小麥、玉米、稻谷、大豆；*2樣品類型：凈糧、半凈糧；*3檢測(cè)時(shí)間：≤200秒（100g樣品）；

*4檢測(cè)方法：振動(dòng)送料，玻璃轉(zhuǎn)盤逐粒檢測(cè)，高清圖像采集，保留樣品原始狀態(tài)，對(duì)樣品無損壞。正反圖像自動(dòng)配準(zhǔn)，將正反面觀測(cè)到的圖像組合成完整谷物圖像，自動(dòng)完成正反面缺陷特征組合，后通過深*度學(xué)習(xí)算法分析，得出每粒樣本的不完善分類結(jié)果；

5檢測(cè)項(xiàng)目：小麥可檢測(cè)雜質(zhì)和不完善粒（蟲蝕粒、破損粒、生芽粒、生霉粒、病斑粒、黑胚粒、赤霉粒）；

玉米可檢測(cè)雜質(zhì)和不完善粒（蟲蝕粒、破損粒、生芽粒、生霉粒、熱損*傷粒、病斑粒）以及霉變粒；

稻谷可檢測(cè)雜質(zhì)和谷外糙米率、出糙率、整精米率、黃粒米率；

大豆可檢測(cè)雜質(zhì)和完整粒、蟲蝕粒、破損粒、生芽粒、生霉粒、病斑粒、熱損*傷粒、未熟粒。

*6檢測(cè)結(jié)果：包括正常粒和不完善粒各分類別的質(zhì)量、粒數(shù)，不完善粒總的和各分類別占原糧的質(zhì)量比和粒數(shù)比；

7擴(kuò)展接口：RS485，RS232、HDMI、USB3.1、網(wǎng)口、串口，可外接打印機(jī)；

*8擴(kuò)展性：支持自動(dòng)化改造和指標(biāo)定制需求；

9數(shù)據(jù)處理與存儲(chǔ)：能完成檢測(cè)數(shù)據(jù)的自動(dòng)存儲(chǔ)和查詢，存儲(chǔ)空間不低于500GB；

10檢測(cè)軟件：可以安裝在內(nèi)置嵌入式操作系統(tǒng)或外置電腦操作系統(tǒng)上；

*11軟件：可提供小麥、玉米、稻谷、大豆等多個(gè)檢測(cè)模塊并提供相關(guān)模塊的軟件；

*12提供分類展示功能，按正常粒、蟲蝕粒、破損粒、生芽粒、生霉粒和病斑粒等類別，展示對(duì)應(yīng)的樣品原始圖像；

13提供歷史檢測(cè)記錄的查詢和打印功能；

*14提供歷史檢測(cè)記錄的快捷導(dǎo)出功能，插上U盤，即可一鍵導(dǎo)出；

15提供一鍵開關(guān)機(jī)功能；

16儀器具有缺料自動(dòng)停止功能，當(dāng)設(shè)定時(shí)間內(nèi)系統(tǒng)沒有檢測(cè)到物料時(shí)，設(shè)備自動(dòng)停止工作；

*17儀器具備AI深*度學(xué)習(xí)功能，不同地區(qū)各種類樣本對(duì)不完善粒認(rèn)定有一定差別時(shí)，儀器可利用少量樣本進(jìn)行快速學(xué)習(xí)達(dá)到新的質(zhì)檢標(biāo)準(zhǔn)并生成存儲(chǔ)檢測(cè)模型；

18適用性：具有抗振動(dòng)環(huán)境適用性，正常車載運(yùn)輸不影響儀器檢測(cè)精度；

*19準(zhǔn)確性：≤1%；

*20重復(fù)性：≤0.5% ；

21顯示器：21.5寸；

22處理器：NVIDIA Jetson AGX Xavie；r

*23高性能CPU ：8-Core Carmel ARM V8.2 64-Bit CPU, 8MB L2 + 4MB L3；

*24高性能GPU：512-Core Volta GPU with 64 Tensor Cores；

*25內(nèi)置上下兩套清理系統(tǒng)，保證玻璃轉(zhuǎn)盤的潔凈度；

*26相機(jī)類型：線陣相機(jī)；

*27具有改判功能，可以實(shí)現(xiàn)人工修正數(shù)據(jù)；

*28內(nèi)置特制軌道修正器，保證樣品在相機(jī)的拍攝范圍內(nèi)；

*29內(nèi)置特制自動(dòng)喂料器，保證樣品下料的均勻度；

30功率：800W；

31噪音：75dB；

32工作溫度：-10℃ ~ 40℃；

33濕度：≤85%RH；

34電源：AC220V±20V，50HZ/60HZ；

35機(jī)器尺寸：800mm*600mm*900mm;