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X射線鍍層測(cè)厚儀,天瑞儀器

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更新時(shí)間：2024-07-31 08:11:25瀏覽次數(shù)：101次

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江蘇天瑞儀器股份有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

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THICK800A是功能強(qiáng)大的X射線鍍層測(cè)厚儀，配備高靈敏度的硅漂移探測(cè)器(SDD)以及微聚焦射線管；以及各種不同組合的準(zhǔn)直器和濾波器，是完成嚴(yán)苛測(cè)量任務(wù)的理想之選

詳細(xì)介紹

THICK800A是功能強(qiáng)大的 X 射線鍍層測(cè)厚儀，配備高靈敏度的硅漂移探測(cè)器 (SDD) 以及微聚焦射線管；以及各種不同組合的準(zhǔn)直器和濾波器，是完成嚴(yán)苛測(cè)量任務(wù)的理想之選。例如，借助 XDV 設(shè)備，您可以測(cè)量?jī)H 5 nm 厚的鍍層厚度及分析其元素成分，還可以對(duì)僅 10 μm 結(jié)構(gòu)的工件進(jìn)行測(cè)試。

THICK800A特性

借助高性能 X 射線管和高靈敏鍍的硅漂移探測(cè)器 (SDD)，可對(duì)超薄鍍層進(jìn)行測(cè)量
極為堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)支持長(zhǎng)時(shí)間批量測(cè)試，具有的穩(wěn)定性
擁有大測(cè)量距離的XDV-μ LD型（小12mm）
配備氦氣充填的XDV-μ LEAD FRAME型儀器可測(cè)量的元素范圍更廣—從Na（11）到鈾（92）
的多毛細(xì)管X射線透鏡技術(shù)，可將 X射線聚焦在極小的測(cè)量面上
通過(guò)可編程XY工作臺(tái)與Z軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測(cè)試
憑借視頻圖像與激光點(diǎn)定位，快速、地測(cè)量產(chǎn)品

THICK800A應(yīng)用：

THICK800A鍍層厚度測(cè)量

抗磨損鍍層，如極小的手表元件上的 NiP鍍層
機(jī)械手表機(jī)芯中可見(jiàn)部件上非常薄的貴金屬涂層
測(cè)量已布元器件線路板
測(cè)量納米級(jí)厚度的金屬化層（凸點(diǎn)下金屬化層，UBM）
C4 以及更小的焊接凸點(diǎn)測(cè)量（Solder Bump）

THICK800A材料分析

依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則，檢測(cè)電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬）
功能性鍍層的成分，如測(cè)定化學(xué)鎳中的磷含量
分析黃金和其他貴金屬及其制成的合金
分析銅柱上的無(wú)鉛焊料凸點(diǎn)（Solder Bump）
測(cè)試半導(dǎo)體行業(yè)中 C4 以及更小的焊接凸點(diǎn)（Solder Bump）

專業(yè)生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，，ROHS測(cè)量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀， ROHS檢測(cè)儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。