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X熒光鍍層測厚儀,天瑞儀器

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更新時間：2024-08-02 09:19:13瀏覽次數(shù)：115次

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江蘇天瑞儀器股份有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：968條

所在地區(qū)：江蘇蘇州市

聯(lián)系人：肖君（銷售）

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產(chǎn)品簡介

X熒光鍍層測厚儀型號：Thick800A參數(shù)規(guī)格1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）

詳細介紹

X熒光鍍層測厚儀

型號：Thick800A

參數(shù)規(guī)格

1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）；
2.同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層；
3.分析含量：般為2ppm到99.9%；
4.鍍層厚度：般在50μm以內（每種材料有所不同）；
5.SDD探測器：分辨率低至135eV；
6.的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm；
7.樣品觀察：配備景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭；
8.準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合；
9.尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um；

性能特點

1.精密的三維移動平臺；
2.的樣品觀測系統(tǒng)；
3.的圖像識別；
4.輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測；
5.四種微孔聚焦準直器，自動切換；
6.雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞；
7.采用大面積高分辨率探測器，降低檢出限，提高測試精度。

儀器配置

1 硬件：主機壹臺，含下列主要部件：

(1) X光管 (2) 半導體探測器

(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動平臺

(5) 高清晰攝像頭 (6) 高壓系統(tǒng)

(7) 上照、開放式樣品腔 (8）雙激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2 軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

安裝要求

1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2 環(huán)境相對濕度：<70%

3 工作電源：交流220±5V

4 周圍不能有強電磁干擾。

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。

專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀，ROHS檢測儀，氣相色譜質譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。