介紹
早期,X熒光鍍層測(cè)厚儀基本被外廠家(德費(fèi)希爾,日本精工,牛津等)壟斷,用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開(kāi)始做光譜儀,是家專業(yè)生產(chǎn)光譜儀的廠家,在X熒光鍍層檢測(cè)方面,打破外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強(qiáng)器與數(shù)字多道分析器,在測(cè)試精度可以與進(jìn)口設(shè)備PK過(guò)程中不落下風(fēng)。超低的檢出限使儀器的性能在與進(jìn)口設(shè)備(費(fèi)希爾,精工,牛津等)PK過(guò)程中不落下風(fēng);儀器使用方便,測(cè)試快捷,可以測(cè)試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。
鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法:
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005
2、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005
3、庫(kù)侖法,此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特點(diǎn):
1. 高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm;
2. 采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求;
3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求;
4. 定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊;
5. 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn);
6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn),微小測(cè)試點(diǎn)更;
7. X射線鍍層測(cè)厚儀廠家優(yōu)勢(shì)在于滿足客戶要求的情況下,價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便,維護(hù)成本更低。
測(cè)試實(shí)例
鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件,其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶的件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測(cè)試,其測(cè)試位置如圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測(cè)試譜圖
銅鍍鎳件測(cè)試值
結(jié)論
實(shí)驗(yàn)表明,使用Thick800A 儀器對(duì)鍍件膜厚測(cè)試,結(jié)果準(zhǔn)確度高,速度快(幾十秒),其測(cè)試效果完可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。
廠家介紹
是的鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)企業(yè), 產(chǎn)品打破了外壟斷局面,性價(jià)比,在行業(yè)內(nèi)銷量*,分析儀器上市公司。公司專業(yè)生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀,ROHS檢測(cè)儀,氣相色譜質(zhì)譜儀(GCMS),五金鍍層測(cè)厚儀,x射線測(cè)厚儀,,手持式鍍層測(cè)厚儀,手持式,ROHS檢測(cè)設(shè)備,電鍍層測(cè)厚儀,五金鍍層測(cè)量?jī)x,天瑞ROHS儀,X射線鍍層測(cè)厚儀。天瑞儀器成立于1992 年,以研究、生產(chǎn)、銷售XRF熒光光譜儀起步,目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的分析儀器及應(yīng)用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關(guān)技術(shù)服務(wù),是內(nèi)上市的分析儀器企業(yè)。
鍍層測(cè)厚儀展廳