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x射線熒光光譜儀

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更新時間：2016-11-01 10:54:26瀏覽次數(shù)：306次

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深圳華普通用科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

x射線熒光光譜儀SPECTRO iQ II采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界.先。

詳細(xì)介紹

x射線熒光光譜儀【深圳華普通用科技有限公司(X射線熒光光譜儀：www.hpge。。ｃｏｍ.cn/guangpufenxiyi) :,咨詢:】

.公司業(yè)務(wù)分為電子測試儀器部，化學(xué)分析儀器部，材料分析儀器部，電磁兼容測試儀器部以及芯片燒錄設(shè)備部。華普通用與美國安捷倫(Agilent)、美國力科(LECORY) 、美國吉時利(KEITHLEY) 、美國泰克(Tektronix) 、美國科學(xué)儀器公司STI、美國SerialTek、德國斯派克(SPECTRO) 、瑞士特測(TESEQ) 、中國臺灣崇貿(mào)(System General) 、以色列HERMON Labs、西班牙ALBEDO ecom SL、日本TAKAYA、澳大利亞CLUSO等數(shù)十家*儀器制造商在中國區(qū)有著廣泛的合作。x射線熒光光譜儀

產(chǎn)品介紹：
SPECTRO iQ II采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界.先。
SPECTRO iQ II無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，都會提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。
SPECTRO iQ II微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。
X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
SPECTRO iQ II不受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。
樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點(diǎn)測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。
設(shè)計更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動，輻射安全高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

產(chǎn)品指標(biāo)：
測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數(shù)：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準(zhǔn)直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義

標(biāo)準(zhǔn)配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機(jī)主機(jī)：品牌+雙核
顯示屏：19吋液晶
打印機(jī)：噴墨打印機(jī)

可選配件
可升級為SDD探測器

可以實(shí)現(xiàn)全自動一鍵操作功能，準(zhǔn)直器自動切換，濾光片自動切換，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照、自動保存，測試報告自動彈出，供應(yīng)商信息自動篩選和保存