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x射線熒光光譜

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更新時間：2016-11-01 10:55:26瀏覽次數(shù)：275次

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深圳華普通用科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

x射線熒光光譜SDD探測器具有良好的能量線性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

詳細介紹

x射線熒光光譜【深圳華普通用科技有限公司(X射線熒光光譜儀：www.hpge。。ｃｏｍ.cn/guangpufenxiyi) :,咨詢:】

.公司業(yè)務(wù)分為電子測試儀器部，化學(xué)分析儀器部，材料分析儀器部，電磁兼容測試儀器部以及芯片燒錄設(shè)備部。華普通用與美國安捷倫(Agilent)、美國力科(LECORY) 、美國吉時利(KEITHLEY) 、美國泰克(Tektronix) 、美國科學(xué)儀器公司STI、美國SerialTek、德國斯派克(SPECTRO) 、瑞士特測(TESEQ) 、中國臺灣崇貿(mào)(System General) 、以色列HERMON Labs、西班牙ALBEDO ecom SL、日本TAKAYA、澳大利亞CLUSO等數(shù)十家*儀器制造商在中國區(qū)有著廣泛的合作。x射線熒光光譜

性能優(yōu)勢：
1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率zui低達到139eV，各項指標(biāo)優(yōu)于國家標(biāo)準(zhǔn)。SDD探測器具有良好的能量線性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。
2. 測試精度更高，檢出限更低
①專業(yè)化的樣品腔設(shè)計，帶可調(diào)速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設(shè)計，保證測試時達到10Pa以下，使設(shè)備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

臺式偏振X射線熒光光譜儀－SPECTRO XEPOS
德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種極其成功的技術(shù)，把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種*的分析技術(shù)已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù)，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。

偏振X射線熒光(XRF)光譜儀

能量色散X熒光光譜儀分析技術(shù)（ED-XRF）對測定材料的化學(xué)組分提供了zui簡便、zui準(zhǔn)確、的分析方法。它是非破壞性的、可靠的、無需（或很少）需樣品制備，非常適合固體、液體及粉末樣品的分析。它分析元素范圍非常廣泛，從11Na到92U,檢出限低于ppm;還可同時測量*濃度。

典型的應(yīng)用包括：分析油、燃料油、塑料、橡膠、紡織品、藥品、塑料、食品、化妝品、勞保用品、化肥、礦石、巖石、沙子、廢渣、水泥、耐熱材料、玻璃、陶瓷；測定紙張、膠片、聚酯、金屬表面的涂層；合金、玻璃與塑料的材料分選；監(jiān)控廢渣、廢水、清潔液、圬泥、及濾渣等。

關(guān)鍵詞：熒光光譜儀材料分析儀芯片光譜儀