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智能激光粒度分析儀粒度/顆粒/粉末分析儀器

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更新時(shí)間：2022-11-01 09:15:45瀏覽次數(shù)：935次

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粒度分析儀

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呼氣阻力測(cè)試儀

納米纖維高溫除塵布袋

納米纖維除塵袋

納米纖維除塵濾袋

納米纖維高性能過(guò)濾袋

卷煙濾棒吸阻測(cè)試儀

香煙吸阻測(cè)試儀

煙支吸阻測(cè)試儀

卷煙吸阻測(cè)試儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

智能激光粒度分析儀是根據(jù)光的散射原理測(cè)量粉顆粒大小的，是一種比較通用的粒度儀。其特點(diǎn)是測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍寬、測(cè)量速度快、操作方便，尤其適合測(cè)量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。對(duì)粒度均勻的粉體，比如磨料微粉，要慎重選用。

詳細(xì)介紹

　　主要用途：
　　激光粒度分析儀是根據(jù)光的散射原理測(cè)量粉顆粒大小的，是一種比較通用的粒度儀。其特點(diǎn)是測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍寬、測(cè)量速度快、操作方便，尤其適合測(cè)量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。對(duì)粒度均勻的粉體，比如磨料微粉，要慎重選用。

　　產(chǎn)品功能：
　　激光粒度儀集成了激光技術(shù)、現(xiàn)代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精密機(jī)械和計(jì)算機(jī)技術(shù)，具有測(cè)量速度快、動(dòng)態(tài)范圍大、操作簡(jiǎn)便、重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)，現(xiàn)已成為*zui流行的粒度測(cè)試儀器。

　　主要應(yīng)用領(lǐng)域：
　　l.各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、*、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤(rùn)土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。
　　2.各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
　　3.其它粉體：如鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、食品、涂料、染料、河流泥沙、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛?、各種乳濁液等。

　　激光粒度儀的原理
　　激光粒度儀是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測(cè)試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以在沒(méi)有阻礙的無(wú)限空間中激光將會(huì)照射到無(wú)窮遠(yuǎn)的地方，并且在傳播過(guò)程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。

　　儀器系統(tǒng)的組成主要包括三部分
　　1)主機(jī)(光學(xué)元件)，標(biāo)志為MasterSizer 2000；主機(jī)用來(lái)收集測(cè)量樣品內(nèi)粒度大小的原始數(shù)據(jù)。
　　2)附件(進(jìn)樣器)，標(biāo)識(shí)為Hydro 2000G(普通濕法)；附件*的目的就是將樣品分散混勻充分并傳送到主機(jī)以便于測(cè)量。
　　3)計(jì)算機(jī)和Malvern測(cè)量軟件；Malvern 軟件可定義、控制整個(gè)測(cè)量過(guò)程，并同時(shí)處理測(cè)量的粒度分布數(shù)據(jù)、顯示結(jié)果并打印報(bào)表。

　　常用的粒度測(cè)量方法
　?。?）篩分法
　　（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）
　　（3）電阻法（庫(kù)爾特顆粒計(jì)數(shù)器）
　?。?）顯微鏡（圖像）法
　　（5）電鏡法
　?。?）超聲波法
　?。?）透氣法
　　（8）激光衍射法

　　各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)
　　篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn)：不能用于40μm以細(xì)的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
　　顯微鏡法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、可進(jìn)行形貌分析。缺點(diǎn)：速度慢、代表性差，無(wú)法測(cè)超細(xì)顆粒。
　　沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)。
　　電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，可測(cè)顆粒總數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn)：測(cè)試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。
　　電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。缺點(diǎn)：樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
　　超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。缺點(diǎn)：分辨率較低。
　　透氣法：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)磁性材料粉體。缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布。
　　激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn)：儀器造價(jià)較高但性能穩(wěn)定。