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設(shè)備用途

設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。本試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

設(shè)備符合標準

GB 10589低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 10592 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則

型號		GDW-50	GDW-100	GDW-150	GDW-225
工作室尺寸:mm		350×350×450	400×450×550	500×500×600	500×600×750
型號		GDW-408	GDW-800	GDW-1000	GDW-1500
工作室尺寸:mm		650×750×850	800×1000×1000	1000×1000×1000	1500×1000×1000
技術(shù) 參數(shù)	溫度范圍	A型-20℃～+100℃（+150℃）/ B型 -40℃～+100℃（+150℃） C型 -70℃～+100℃
	波動度	≤±0.5℃
	均勻度	≤2℃
	升溫速率	1.0～3.0℃/min
	降溫速率	0.7～1℃/min
箱體材料	外箱材料	優(yōu)質(zhì)A3鋼板靜電噴塑/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理
	內(nèi)箱材料	優(yōu)質(zhì)SUS304不銹鋼板
	保溫材料	超細玻璃纖維保溫棉/硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡
	箱門密封	雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅膠密封條
控制系統(tǒng)	控制儀	日本進口“神港”/韓國進口“TEMI”（選其一）
		精度范圍：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃
	溫度傳感器	鉑金電阻PT100Ω/MV
	循環(huán)系統(tǒng)	耐溫低噪音型電機，單循環(huán)、加長軸、不銹鋼多葉式離心風(fēng)葉
	加熱方式	鎳鉻合金電加熱式加熱器
	制冷方式	單元制冷方式/雙元（復(fù)疊）制冷方式（風(fēng)冷）
	壓縮機	法國“泰康”全封閉制冷壓縮機/法國“泰康”全封閉制冷壓縮機組
定時功能		0.1～99.99（S、M、H）
安保裝置		電源超載、漏電、接地、超溫保護（帶聲訊提示）、快速保險絲、壓縮機過壓保護、相序保護
標準配置		耐高、低溫鋼化玻璃內(nèi)熱式中空玻璃觀察窗：200×300（mm）一個,照明燈一只測試引線孔￠50mm或￠25mm一個，樣品架1付，帶腳輪
電源電壓		ACø220V·50HZ/380V·50HZ
使用環(huán)境溫度		15℃～＋30℃≤85％R.H
以上為標準型試驗箱，可根據(jù)用戶的具體要求定做非標型
本技術(shù)信息，如有變動恕不另行通知